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北京飛凱曼科技有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 霍爾效應(yīng)測(cè)試儀，塞貝克熱電效應(yīng)測(cè)試儀，高低溫真空探針臺(tái)，少子壽命測(cè)試儀，深能級(jí)瞬態(tài)譜儀，普克爾盒驅(qū)動(dòng)，非線性晶體，紅外晶體，光學(xué)元件 |
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北京飛凱曼科技有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 霍爾效應(yīng)測(cè)試儀，塞貝克熱電效應(yīng)測(cè)試儀，高低溫真空探針臺(tái)，少子壽命測(cè)試儀，深能級(jí)瞬態(tài)譜儀，普克爾盒驅(qū)動(dòng)，非線性晶體，紅外晶體，光學(xué)元件 |
| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱(chēng) | |||
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FST150薄膜應(yīng)力測(cè)試儀 簡(jiǎn)單介紹：北京飛凱曼科技公司提供薄膜應(yīng)力測(cè)試儀。，又名薄膜殘余應(yīng)力測(cè)試儀或薄膜應(yīng)力儀，是專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試和研究薄膜材料和薄膜制備工藝的*的工具。 薄膜中應(yīng)力的大小和分布對(duì)薄膜的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)有重要的影響, 可導(dǎo)致薄膜的光、電、磁、機(jī)械性能改變. 例如, 薄膜中的應(yīng)力是導(dǎo)致膜開(kāi)裂或與基體剝離的主要因素, 薄膜中存在的殘余應(yīng)力很多情況下影響MEMS 器件結(jié)構(gòu)的特性, 甚至嚴(yán)重劣化器件的性能, 薄膜的 產(chǎn)品型號(hào)：FST150 所在地：北京市 更新時(shí)間：2017-05-09 |
參考價(jià):面議 詢(xún)價(jià)留言 | ||
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精密劃片機(jī) 簡(jiǎn)單介紹：北京飛凱曼公司提供精密劃片機(jī)。日本APCO公司系列，型號(hào)包括AMC－7600，7800，8000。廣泛應(yīng)用于硅片、光掩膜、液晶顯示器用TFT、石英、集成電路器件等樣品橫斷面的切割。劃片精度±2.5微米，適用于Z大達(dá)8英寸，厚度0.6至10毫米樣品，可確保獲得光滑的橫斷面以便于進(jìn)一步觀察。具有CPU控制，操作簡(jiǎn)便，制備速度快，可以刻劃平坦或彎曲的樣品。目前，包括東芝、索尼、愛(ài)普生、IBM、 產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：北京市 更新時(shí)間：2017-04-14 |
參考價(jià):面議 詢(xún)價(jià)留言 | ||
