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北京飛凱曼科技有限公司

主營(yíng)產(chǎn)品: 霍爾效應(yīng)測(cè)試儀,塞貝克熱電效應(yīng)測(cè)試儀,高低溫真空探針臺(tái),少子壽命測(cè)試儀,深能級(jí)瞬態(tài)譜儀,普克爾盒驅(qū)動(dòng),非線性晶體,紅外晶體,光學(xué)元件

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公司信息

聯(lián)人:
趙經(jīng)理
址:
北京市大興區(qū)華佗路9號(hào)院熙兆大廈2號(hào)樓11層 13426411645
編:
鋪:
http://m.jjhengye.com/st40677/
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FST150薄膜應(yīng)力測(cè)試儀

薄膜應(yīng)力測(cè)試儀
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào) FST150
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市

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更新時(shí)間:2017-05-09 06:45:25瀏覽次數(shù):7292

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【簡(jiǎn)單介紹】
北京飛凱曼科技公司提供薄膜應(yīng)力測(cè)試儀。,又名薄膜殘余應(yīng)力測(cè)試儀或薄膜應(yīng)力儀,是專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試和研究薄膜材料和薄膜制備工藝的*的工具。
薄膜中應(yīng)力的大小和分布對(duì)薄膜的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)有重要的影響, 可導(dǎo)致薄膜的光、電、磁、機(jī)械性能改變. 例如, 薄膜中的應(yīng)力是導(dǎo)致膜開(kāi)裂或與基體剝離的主要因素, 薄膜中存在的殘余應(yīng)力很多情況下影響MEMS 器件結(jié)構(gòu)的特性, 甚至嚴(yán)重劣化器件的性能, 薄膜的
【詳細(xì)說(shuō)明】

北京飛凱曼科技公司提供薄膜應(yīng)力測(cè)試儀。薄膜應(yīng)力測(cè)試儀,又名薄膜殘余應(yīng)力測(cè)試儀或薄膜應(yīng)力儀,是專(zhuān)門(mén)用于測(cè)試和研究薄膜材料和薄膜制備工藝的*的工具。

薄膜中應(yīng)力的大小和分布對(duì)薄膜的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)有重要的影響, 可導(dǎo)致薄膜的光、電、磁、機(jī)械性能改變. 例如, 薄膜中的應(yīng)力是導(dǎo)致膜開(kāi)裂或與基體剝離的主要因素, 薄膜中存在的殘余應(yīng)力很多情況下影響MEMS 器件結(jié)構(gòu)的特性, 甚至嚴(yán)重劣化器件的性能, 薄膜的內(nèi)應(yīng)力對(duì)薄膜電子器件和薄膜傳感器的性能有很大的影響.因此, 薄膜應(yīng)力研究在薄膜基礎(chǔ)理論和應(yīng)用研究中起到重要的作用, 薄膜應(yīng)力的測(cè)量備受關(guān)注。再例如在硬質(zhì)薄膜領(lǐng)域,金屬氮化物、氧化物、碳化物等硬質(zhì)薄膜因具有*的耐磨、耐腐蝕等特性,被廣泛應(yīng)用于金屬材料的防護(hù).硬質(zhì)薄膜的主要制備方法包括物理氣相沉積和化學(xué)氣相沉積技術(shù).研究發(fā)現(xiàn),沉積態(tài)硬質(zhì)薄膜中存在較大的殘余應(yīng)力,而且沿層深分布不均勻;該殘余應(yīng)力對(duì)硬質(zhì)薄膜一基體系統(tǒng)的性能影響很大-lJ_精確地測(cè)量硬質(zhì)薄膜的殘余應(yīng)力,系統(tǒng)研究它與沉積工藝的關(guān)系,對(duì)優(yōu)化硬質(zhì)薄膜基體系統(tǒng)的性能具有重要的意義.


本公司提供的

基于經(jīng)典基片彎曲法Stoney公式測(cè)量原理,采用*控制技術(shù)和傻瓜化的操作,使得FST150薄膜應(yīng)力測(cè)量?jī)x特別適合于要求快速測(cè)量常規(guī)薄膜殘余應(yīng)力。 根據(jù)我們科研工作者*的扎實(shí)的理論研究和實(shí)際工藝探索,研制的一套適用于各種薄膜應(yīng)力測(cè)試的裝置。近年來(lái),經(jīng)過(guò)國(guó)內(nèi)院校和科研單位的實(shí)際使用和驗(yàn)證,該儀器具有良好的重復(fù)性和準(zhǔn)確性,是一款廣泛應(yīng)用于各領(lǐng)域薄膜制備和材料研究的高性?xún)r(jià)比的儀器。

 

產(chǎn)品功能和特點(diǎn):

自動(dòng)采集分析數(shù)據(jù)功能;

自動(dòng)掃查樣品邊緣,定位樣品中心;

自動(dòng)計(jì)算出曲率半徑值和薄膜應(yīng)力值;

對(duì)原始表面不平直的基片表面的薄膜,可采取原位測(cè)量的方式,計(jì)算薄膜應(yīng)力值。

 

技術(shù)參數(shù):

1.原理:曲率法Stoney公式

2.薄膜應(yīng)力測(cè)量范圍:5MPa到50GPa;

3.曲率半徑測(cè)試范圍:0.3-20m

4.曲率半徑測(cè)試誤差:﹤±1%

5.薄膜應(yīng)力計(jì)算誤差:﹤±2%

6.測(cè)試平臺(tái)行程:X方向100mm,Y方向50mm

7.樣品尺寸:長(zhǎng)方形樣品

8.樣品定位:自動(dòng)定位原點(diǎn)

9.樣品校正:可計(jì)算校正原始表面不平直影響

10.主要功能:自動(dòng)測(cè)量采集計(jì)算曲率半徑和薄膜應(yīng)力

11.控制:獨(dú)立PC及控制軟件

12.儀器尺寸:1500x380x360mm

 

詳細(xì)信息請(qǐng)咨詢(xún)我們。

P?en???n style='font-size:9.0pt; font-family:宋體;mso-bidi-font-family:宋體;color:black;mso-font-kerning:0pt'>控制器要求:                   MMR提供的可編程溫度和塞貝克測(cè)量控制器

 

過(guò)濾干燥系統(tǒng)要求:             標(biāo)準(zhǔn)的過(guò)濾干燥系統(tǒng)或者可再生過(guò)濾干燥系統(tǒng)

氣體要求:                     99.998% 的高純氮?dú)饣蛘邭鍤?,至?800 psi壓力

真空要求:                     不高于8 mTorr

 

產(chǎn)品應(yīng)用

     1)汽車(chē)和燃油

     2)能源利用效率

     3)替代能源領(lǐng)域

     4)熱電制冷

     5)很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會(huì)誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域

詳細(xì)信息請(qǐng)。

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