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ATM 210/H 詳細(xì)摘要: 空氣過濾器材的測(cè)試:通過使用氣溶膠發(fā)生器產(chǎn)生高濃度的顆粒,且顆粒半徑接近穿透力顆粒半徑MPPS,用于檢測(cè)顆粒的過濾效率及檢測(cè)過濾器滲漏的位置,常用的氣溶膠材料包...
產(chǎn)品型號(hào): 所在地:北京市 更新時(shí)間:2026-08-24 參考價(jià): 面議 在線留言 -
ATM-210 詳細(xì)摘要: 空氣過濾器材的測(cè)試:通過使用氣溶膠發(fā)生器產(chǎn)生高濃度的顆粒,且顆粒半徑接近穿透力顆粒半徑MPPS,用于檢測(cè)顆粒的過濾效率及檢測(cè)過濾器滲漏的位置,常用的氣溶膠材料包...
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稀釋器 eDiluter™ Pro 1200C 詳細(xì)摘要: 芬蘭/DEKATI稀釋比:1:25~1:225用戶可調(diào)入口壓力監(jiān)測(cè):900-2200mbar采樣入口溫度:≤1200℃(≤600℃無高溫模塊)稀釋出口溫度:接近...
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FLIR T860高性能手持式熱像儀 詳細(xì)摘要: FLIRT860熱像儀采用傾斜式光學(xué)設(shè)計(jì),支持非接觸檢測(cè)方法,簡單易用,可以安全舒適地評(píng)估關(guān)鍵電氣和機(jī)械設(shè)備的狀況
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ATM 220 詳細(xì)摘要: 德國/TOPAS氣溶膠產(chǎn)生速率::>2╳1010個(gè)/s質(zhì)量流量:≈2
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炭黑氣溶膠發(fā)生器 Mini CAST系列 詳細(xì)摘要: 氣溶膠研究顆粒物測(cè)量設(shè)備的校正及測(cè)試(PMP
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便攜式排放測(cè)試系統(tǒng)PEMS 詳細(xì)摘要: SEMTECHDS+是美國Sensors公司的第五代車載尾氣分析系統(tǒng),符合歐六和國六對(duì)車載尾氣排放測(cè)試的技術(shù)要求,可以在實(shí)驗(yàn)室內(nèi)或者車載使用
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機(jī)動(dòng)車PN檢測(cè)儀 詳細(xì)摘要: 前置一級(jí)稀釋器稀釋比為10:1
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腔衰減相移式亞硝酸監(jiān)測(cè)儀 CAPS-NO2/HONO 詳細(xì)摘要: 日本/Shoreline檢測(cè)原理:利用真空光電二極管進(jìn)行長路徑吸收測(cè)量
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寬范圍粒徑譜儀 DMS 500 詳細(xì)摘要: DMS500可測(cè)量5nm和1000nm之間的全尺寸分布(可提供擴(kuò)展的5nm-2500nm選項(xiàng))可用于以下領(lǐng)域:柴油機(jī)DMS500可測(cè)量完整的顆粒尺寸、數(shù)量和質(zhì)量...
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腔衰減相移式單散射反照率監(jiān)測(cè)儀 CAPS-ALB 詳細(xì)摘要: 日本/Shoreline光源:高功率LED
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三波段腔衰減相移式單散射反照率監(jiān)測(cè)儀 CAPS-ALB-3 詳細(xì)摘要: 日本/Shoreline光源:高功率LED
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腔衰減相移式消光系數(shù)監(jiān)測(cè)儀 CAPS-EXT 詳細(xì)摘要: 日本/Shoreline光源:高功率可視化LED
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三波段腔衰減相移式消光系數(shù)監(jiān)測(cè)儀 CAPS-EXT-3 詳細(xì)摘要: 日本/Shoreline光源:高功率可視化LED
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荷電低壓顆粒物撞擊器 ELPI+ 詳細(xì)摘要: 芬蘭/DEKATI粒徑范圍:0.006-10μm工作溫度:10-35℃粒徑等級(jí):14工作濕度:0-90%RH(非冷凝)樣本流量:10lpm取樣頻率:10Hz功率...
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高溫型荷電低壓顆粒物撞擊器 HT-ELPI+ 詳細(xì)摘要: 芬蘭/DEKATI粒徑范圍:0.006-10μm工作溫度:10-180℃粒徑等級(jí):14工作濕度:0-90%RH(非冷凝)樣本流量:10Lpm取樣頻率:10Hz功...
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高分辨率荷電低壓顆粒物撞擊器 HR-ELPI+ 詳細(xì)摘要: 芬蘭/DEKATI粒徑范圍:0.006-10μm工作溫度:10-35粒徑等級(jí):100或500
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掃描電遷移率粒徑譜儀 SMPS+C 詳細(xì)摘要: 德國/GRIMMSMPS+C系統(tǒng)采用傳統(tǒng)的差分電遷移率粒徑分級(jí)器(DMA)和凝聚核粒子計(jì)數(shù)器(CPC)技術(shù)結(jié)合,兩種不同型號(hào)的DMA可以同時(shí)檢測(cè)5—350nm(...
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掃描電遷移率粒徑譜儀 SMPS+E 詳細(xì)摘要: 德國/GRIMMSMPS+E系統(tǒng)采用傳統(tǒng)的差分電遷移率粒徑分級(jí)器(DMA)和法拉第杯靜電計(jì)(FCE)技術(shù)結(jié)合,三種不同型號(hào)的DMA可以同時(shí)檢測(cè)0.8-53nm(...
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寬范圍粒徑譜儀 SMPS+C & 11-D(室內(nèi)) 詳細(xì)摘要: 功能實(shí)時(shí)監(jiān)控整個(gè)粒度范圍高精度CPC和OPC在低濃度和高濃度出色的計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)和重現(xiàn)性低擴(kuò)散損耗所有光學(xué)和氣動(dòng)元件的自檢符合高質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)保護(hù)儀器參數(shù)
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