FEl Talos™ F200X掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM) 可提供*快、*準(zhǔn)確且量化的多維度納米材料表征。

FEl Talos F200X 的創(chuàng)新功能可提高通量、精度與易用性，非常適合學(xué)術(shù)界、**和工業(yè)研究環(huán)境中的高級研究與分析。

產(chǎn)品特點(diǎn):

●更好的圖像數(shù)據(jù):

配備同步多重信號(hào)檢測的高通量STEM 成像可實(shí)現(xiàn)更好的對比度，

●從而可提供高質(zhì)量圖像

更短的化學(xué)成分?jǐn)?shù)據(jù)生成時(shí)間:

快速、精確且量化的 EDS 分析 可揭示納米級細(xì)節(jié)

●為擴(kuò)大應(yīng)用提供空間:

添加特定于應(yīng)用的原位樣品桿以開展動(dòng)態(tài)實(shí)驗(yàn)

●更高的穩(wěn)定性:

采用儀器罩和遠(yuǎn)程操作來提高環(huán)境***