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詳細(xì)摘要： 型號:ContourX-100、ContourX-200、ContourX-500、Contour GT等

詳細(xì)摘要： D8 ADVANCE X射線行射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GI...

詳細(xì)摘要： 用途:測量納米尺度的硬度與模量，可以用于研究或測試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性。應(yīng)力-應(yīng)變曲線、疲勞、存儲模量及損耗模量等特性。

詳細(xì)摘要： 用途:白光干涉儀是一種新型的表面形貌測量設(shè)備，主要用于獲得材料表面的粗糙度、波紋度、翹曲度、自相關(guān)函數(shù)、承載曲線、輪廓線提取等三維特征參數(shù)。以及對材料表面形貌的...

詳細(xì)摘要： 基本參數(shù):負(fù)載范圍:1 mN-2000 N扭矩能力:5Nm@100rpm，2.5Nm@5,000rpm

詳細(xì)摘要： 用途:用于測試材料的耐磨性、摩擦系數(shù)、評定潤滑油的長時抗磨損性能等。型號:UMT TriboLab、TriboLab CMP基本參數(shù):負(fù)載范圍:1 mN-200...

詳細(xì)摘要： 型號:Dimension Icon、Dimension Edg、Dimension Edge PSS等

詳細(xì)摘要： 用途:用于獲取材料表面的納米級三維形貌結(jié)構(gòu)，納米力學(xué)，納米電學(xué)性能等