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熱場式場發(fā)射掃描電鏡 SU5000 詳細摘要: 熱場式場發(fā)射掃描電鏡SU5000創(chuàng)新的“EMWizard"界面更加直觀,僅需要“點擊"即可得到理想的圖像
產(chǎn)品型號: 所在地:上海市 更新時間:2025-07-13 參考價: 面議 在線留言 -
高性能FIB-SEM系統(tǒng) Ethos NX5000 詳細摘要: 高性能與高靈活性兼?zhèn)洹癊thos"采用日立高新的核心技術--高亮度冷場發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復合透鏡,不但可以在低加速電壓下實現(xiàn)高分辨觀察,還可以在FIB加工...
產(chǎn)品型號: 所在地:上海市 更新時間:2025-07-13 參考價: 面議 在線留言 -
超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電鏡 SU7000 詳細摘要: 超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電鏡SU7000SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫質圖像,而且還可以同時接收多種信號
產(chǎn)品型號: 所在地:上海市 更新時間:2025-07-13 參考價: 面議 在線留言 -
AXIS Supra-X射線電子能譜儀 詳細摘要: 2019年9月Kratos公司秉承著傳承經(jīng)典的理念隆重推出了全自動、成像型多技術X射線光電子能譜儀——AXISSUPRA+
產(chǎn)品型號: 所在地:上海市 更新時間:2025-07-13 參考價: 面議 在線留言 -
FIB-SEM三束系統(tǒng) NX2000 詳細摘要: 追求理想的TEM樣品制備工具在高科技設備及高性能納米材料的評價和分析領域,F(xiàn)IB-SEM已成為的工具
產(chǎn)品型號: 所在地:上海市 更新時間:2025-07-13 參考價: 面議 在線留言 -
球差場發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000 詳細摘要: 球差場發(fā)射透射電子顯微鏡HF5000200kV相差校正TEM/STEM,平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能通過單極片實現(xiàn)0.078nm的STEM空間分辨率和高樣品...
產(chǎn)品型號: 所在地:上海市 更新時間:2025-07-13 參考價: 面議 在線留言 -
透射電子顯微鏡HT7800系列 詳細摘要: 以創(chuàng)新的操作性,滿足廣泛領域的需求
產(chǎn)品型號: 所在地:上海市 更新時間:2025-07-13 參考價: 面議 在線留言 -
原子力顯微鏡—alpha300 A 詳細摘要: 原子力顯微鏡–alpha300A納米級形貌表征WITecalpha300A原子力顯微鏡集成了科研級光學顯微鏡,可以實現(xiàn)高清晰的光學觀察、簡便的探針-反饋光束對準...
產(chǎn)品型號: 所在地:上海市 更新時間:2025-07-13 參考價: 面議 在線留言 -
電子探針顯微分析儀EPMA-8050G 詳細摘要: “TheGrandEPMA"誕生搭載高質量場發(fā)射電子光學系統(tǒng)將島津EPMA分析性能發(fā)揮到從SEM觀察條件到1μA量級,在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場發(fā)射電...
產(chǎn)品型號: 所在地:上海市 更新時間:2025-07-13 參考價: 面議 在線留言 -
電子探針顯微分析儀EPMA-1720 Series 詳細摘要: 的分析本領與的操作性能融為一體!前沿科技,隆重登場
產(chǎn)品型號: 所在地:上海市 更新時間:2025-07-12 參考價: 面議 在線留言 -
TJ-101G 紙箱耐破度測試儀 詳細摘要: TJ-101G紙箱耐破度測試儀101G全自動紙張耐破度儀(以下簡稱儀器)是紙張強度性能檢測的基本儀器,其各項性能參數(shù)和技術指標符合ISO2758《紙—耐破度的測...
產(chǎn)品型號: 所在地:上海市 更新時間:2024-02-28 參考價: 面議 在線留言 -
TJ-101C 紙箱耐破度測試儀 詳細摘要: TJ-101C紙箱耐破度測試儀微電腦紙板耐破度儀主要用于測定各種紙板及單層和多層瓦楞紙板的耐破強度的測試
產(chǎn)品型號: 所在地:上海市 更新時間:2024-02-26 參考價: 面議 在線留言
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