詳細介紹

追求理想的TEM樣品制備工具
在高科技設(shè)備及高性能納米材料的評價和分析領(lǐng)域,FIB-SEM已成為的工具。
近來,目標觀察物更趨微細化;更薄,更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。
日立高新公司,整合了高性能FIB技術(shù)和高分辨SEM技術(shù),再加上加工方向控制技術(shù)以及Triple Beam®*1(選配)技術(shù),推出了新一代產(chǎn)品NX2000。





|
拓精儀器科技(上海)有限公司
|
| 參考價 | 面議 |
更新時間:2025-07-13 08:00:36瀏覽次數(shù):130
聯(lián)系我們時請說明是制藥網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
聯(lián)系方式:查看聯(lián)系方式

追求理想的TEM樣品制備工具
在高科技設(shè)備及高性能納米材料的評價和分析領(lǐng)域,FIB-SEM已成為的工具。
近來,目標觀察物更趨微細化;更薄,更低損傷樣品的制備需求更進一步凸顯。
日立高新公司,整合了高性能FIB技術(shù)和高分辨SEM技術(shù),再加上加工方向控制技術(shù)以及Triple Beam®*1(選配)技術(shù),推出了新一代產(chǎn)品NX2000。




