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詳細摘要： AS-HTRB-F16AS-HTRB系列高溫反偏測試系統(tǒng)用于評估封裝工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，剔除有隱患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔除早期失效的器件）。...

詳細摘要： AS-HTRB-B16用于評估分立器件工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，剔除有隱患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔除早期失效的器件）的一種可靠性試驗。產(chǎn)品特.......

詳細摘要： AS-H3TRB-C16一種用于評估分立半導(dǎo)體器件在高溫，高濕，偏壓條件下對濕氣的抵抗能力，加速其失效進程，同時可附帶評價器件外觀的寢蝕。產(chǎn)品特點 ......

詳細摘要： AS-H3TRB-H8（模塊專用）適用的第三代半導(dǎo)體的研發(fā)和工藝改進1、高溫擴散工藝技術(shù)的改進，包括可能引起硅片內(nèi)部隱裂的工藝技術(shù)改進2、包封工藝技術(shù)、框架處理...