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小型高溫反偏試驗(yàn)系統(tǒng)HTRB 詳細(xì)摘要： 小型高溫反偏試驗(yàn)系統(tǒng)HTRBAS-HTRB-C8小型高溫反偏測(cè)試系統(tǒng)用于研發(fā)部分評(píng)估封裝工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，剔除有隱患的器件或剔除有制造缺陷的器件（剔...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：蘇州市 更新時(shí)間：2025-05-04 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
高溫反偏試驗(yàn)系統(tǒng)HTRB 詳細(xì)摘要： 高溫反偏試驗(yàn)系統(tǒng)HTRB適用于IGBT/DIODE/MOSFET/HEMT/BJT/SCR 等器件的高溫反偏試驗(yàn);產(chǎn)品應(yīng)用覆蓋DIP、SOP、SOT、SOD、T...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：蘇州市 更新時(shí)間：2025-05-04 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
高溫高濕反偏試驗(yàn)系統(tǒng)H3TRB 詳細(xì)摘要： 高溫高濕反偏試驗(yàn)系統(tǒng)H3TRB高溫高濕反偏試驗(yàn)系統(tǒng)（H3TRB)用于功率半導(dǎo)體器件的環(huán)境老化試驗(yàn)，比如 Si/SiC/GaN 材料的IGBT/DIODE/MOS...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：蘇州市 更新時(shí)間：2025-05-04 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
高溫柵偏試驗(yàn)系統(tǒng)HTGB 詳細(xì)摘要： 高溫柵偏試驗(yàn)系統(tǒng)HTGB高溫柵偏試驗(yàn)系統(tǒng)滿足各種封裝形式IGBT模塊高溫柵偏試驗(yàn)HTGB和高溫漏電流測(cè)試HTIR。用于評(píng)估功率模塊工藝的穩(wěn)定性，加速缺陷失效率，...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：蘇州市 更新時(shí)間：2025-05-04 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)IOL 詳細(xì)摘要： 間歇壽命試驗(yàn)系統(tǒng)IOL產(chǎn)品特點(diǎn)
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地：蘇州市 更新時(shí)間：2025-05-04 參考價(jià)： 面議 在線留言