MicroTEQ-A1顯微光譜測(cè)量系統(tǒng)，集成熒光、共焦拉曼測(cè)量功能^*。通過(guò)把光譜測(cè)量模塊集成到正置或倒置顯微鏡上，實(shí)現(xiàn)顯微熒光、共焦拉曼和其他光譜信息的測(cè)量。系統(tǒng)由光譜儀、激光器、顯微鏡、光譜測(cè)試模塊等部分構(gòu)成。

*注：使用光纖代替共聚焦系統(tǒng)內(nèi)的小孔（Pinhole）。

應(yīng)用范圍

· 腫瘤檢測(cè)

· 珠寶鑒定：翡翠、寶石的真假區(qū)分

· 地質(zhì)研究

· 法學(xué)：筆跡鑒定、檢測(cè)等

定制顯微鏡

MicroTEQ-A1 系統(tǒng)可以適配不同品牌和種類的顯微鏡，客戶可根據(jù)需求自行挑選。同時(shí)，由于應(yīng)用領(lǐng)域的多樣性，客戶對(duì)系統(tǒng)性能的側(cè)重點(diǎn)各不相同，該系統(tǒng)對(duì)此提供定制服務(wù)，滿足客戶的不同需求。

系統(tǒng)參數(shù)