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日本Otsuka顯微分光膜厚儀@2023動態(tài)已更新《新品/推薦 》 詳細(xì)摘要: 簡要描述: 使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過反射率進(jìn)行測量,可進(jìn)行高精度膜厚度 光學(xué)常數(shù)分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度,例如各種膜、晶片、光學(xué)材...
產(chǎn)品型號: 所在地:深圳市 更新時間:2026-04-27 參考價: 面議 在線留言
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