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日本Otsuka顯微分光膜厚儀@2023日快訊推薦 詳細摘要： 簡要描述： 使用顯微光譜法在微小區(qū)域內(nèi)通過反射率進行測量，可進行高精度膜厚度 光學常數(shù)分析。 可通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材...
產(chǎn)品型號： 所在地：深圳市 更新時間：2026-04-27 參考價： 面議 在線留言
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