XAU-4C 鍍層膜厚分析儀性能優(yōu)勢(shì)：

1.微小樣品檢測(cè)：最小測(cè)量面積0.03mm2（加長(zhǎng)測(cè)量時(shí)間可小至0.01mm2）

2.變焦裝置算法：可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品，變焦距離可達(dá)0-30mm

3.的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層，多層多元 素，甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量。   

4.的解譜技術(shù)：減少能量相近元素的干擾，降低檢出限。   

5.高性能探測(cè)器：SDD硅漂移窗口面積25mm2探測(cè)器。   

6.X射線裝置：微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置。 

XAU-4C 鍍層膜厚分析儀的EFP算法

       專(zhuān)業(yè)的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，多元迭代開(kāi)發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合光路轉(zhuǎn)換的技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標(biāo)樣來(lái)校正儀器因子，可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。

RoHS檢測(cè)及標(biāo)定