ALBATROSS-TT是由德國(guó)Fraunhofer IOF 研發(fā)的角分辨式散射測(cè)試系統(tǒng)，具有高動(dòng)態(tài)范圍、高靈敏度、低噪聲等特點(diǎn)。

可測(cè)量參數(shù)：角分辨散射ARS，雙向反射分布BRDF，雙向透射分布BTDF，散射損耗，反射，透射等，且具有3D掃描功能。

測(cè)試光源：405nm，532nm，640nm等激光光源    

測(cè)試樣品：光學(xué)或非光學(xué)基底和表面

                 可測(cè)樣品規(guī)格重量：  1 kg

                 尺寸：  ø200 mm x 100 mm

指標(biāo)參數(shù)：

   角度分辨率：<0.001°，

   角精度：<0.02° (2D), <0.1° (3D)

   對(duì)粗糙度的靈敏度 < 0.1 nm

   測(cè)量重復(fù)精度：優(yōu)于5%

   BRDF/BTDF 測(cè)試動(dòng)態(tài)范圍：≥1013 @532nm

   BRDF/BTDF 最小測(cè)量值：1×10-8sr-1。

設(shè)備應(yīng)用：

1 主要用于光學(xué)系統(tǒng)光機(jī)件表面的散射測(cè)量，包括雙向反射分布函數(shù)（BRDF），雙向透射分布函數(shù)(BTDF)和半球空間積分散射（ARS）。

2 對(duì)光學(xué)器件表面，薄膜以及材料性質(zhì)進(jìn)行表征和分析，包括：

 產(chǎn)品質(zhì)量分析

 光學(xué)性能分析

  粗糙度分析等