產(chǎn)品簡介 蔡司XradiaContext是一種大視場，非破壞性3DX射線微型計算機斷層掃描系統(tǒng)。借助*的平臺和靈活的軟件控制源/探測器定位，您可以在完整的3D環(huán)境中對大型，重型(25kg)和高樣本進行成像，以及具有高分辨率和細節(jié)的小樣本。獲取完整的電子元件，大型原材料樣品或生物樣品的3D數(shù)據(jù)。執(zhí)行非破壞性故障分析，以識別內(nèi)部缺陷，而無需切割樣品或工件表征和量化材料中的性能定義異質(zhì)性，如孔隙率，裂縫，夾雜物
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