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不規(guī)則樣品粒度分析方案 —— CN-300 離心式納米粒度分析儀
非規(guī)則球體的碳納米管和石墨烯、高濃度的漿料、含有雜質(zhì)或聚集態(tài)的多分散材料，其粒徑分析一直是困擾研究者的難題。
為了解決諸如此類材料的粒度表征問題，各類粒徑分析手段層出不窮，但各自的局限性難以忽視。盡管圖像法、動態(tài)光散射(DLS)、激光衍射等測量方法在不同維度解決了部分問題，但數(shù)據(jù)缺乏代表性、低分辨率、濃度限制、不規(guī)則樣品的測量結(jié)果重復性差等缺陷依然制約著此類材料的粒度表征。
納米材料的粒徑分布表征不該浮于表面，不規(guī)則、寬分布、多分散、高濃度納米顆粒，該如何獲得具有統(tǒng)計學意義的粒徑分析結(jié)果？
HORIBA CN-300 離心式納米粒度分析儀內(nèi)置高速離心模式，最大離心力可達 30000 G，可使大小不同的納米顆粒得以分離。它通過記錄顆粒到達檢測器的所需時間計算顆粒大小，顯著提升了儀器的表征復雜樣品的能力，可幫助解決(包括卻不限于)如下樣品的粒度分析難題：
• 多分散的復雜體系：當你的樣本含有雜質(zhì)或聚集態(tài)，高速離心法幫你輕松分辨；
• 高濃度樣品：多數(shù)粒徑測量方法對樣品濃度有要求，而稀釋會影響某些樣品的表面狀態(tài)；
• 不規(guī)則球體：功能性納米材料如碳納米管、納米纖維素等，其形狀的不規(guī)則導致常規(guī)光學分析方法重復性差，高速離心法利用重力測量，巧妙規(guī)避了形狀對結(jié)果的影響；
CN-300 如何解決了這些問題？它還可以解決哪些問題？你的樣品適用于這種分析方式嗎？相較你更熟悉的 NTA 與 DLS，CN-300 又能與你的研究碰撞出怎樣的火花？
掃碼觀看“如何捕捉并測量復雜樣品中少量雜質(zhì)顆?；驁F聚體”視頻講座，滿滿干貨，讓你的粒度分析更進一步！
編輯：Iris
排版：Cecilia
審核: Joanna, Lucy
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