瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡和NanoIR納米紅外光譜成像顯微鏡是一種可通過(guò)擴(kuò)展多種模塊實(shí)現(xiàn)納米級(jí)別空間分辨率基礎(chǔ)上的熱力學(xué)、力學(xué)、電學(xué)和磁學(xué)分析的*儀器系統(tǒng)，其中，納米熱分析模塊（簡(jiǎn)稱NanoTA）就是一種熱力學(xué)分析儀器。

        瑞宇科技的納米熱分析模塊使用具有特別技術(shù)的耐高溫特種探針可實(shí)現(xiàn)探針自加熱，對(duì)樣品表面的微區(qū)進(jìn)行加熱，樣品表面微區(qū)加熱后發(fā)生熱膨脹，使得探針信號(hào)偏轉(zhuǎn)，當(dāng)樣品達(dá)到臨界溫度時(shí)會(huì)發(fā)生軟化，從而造成探針偏轉(zhuǎn)信號(hào)突變，進(jìn)而獲得樣品的轉(zhuǎn)變點(diǎn)溫度。

        利用這一功能，使用瑞宇科技的納米熱分析模塊能夠得到樣品的熔融點(diǎn)溫度、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度及特定區(qū)域的溫度掃描成像圖，能夠提供異質(zhì)材料如共混物/混合物/多層膜的局部熱分析鑒定，從而為研究人員提供更全面的分析信息。

        瑞宇科技的納米熱分析模塊可與原子力顯微鏡結(jié)合實(shí)現(xiàn)掃描熱顯微鏡（SThM）功能，從而允許納米級(jí)相對(duì)溫度成像或熱傳導(dǎo)率成像，

                                                                PA6PET共混物的微區(qū)納米熱分析

主要參數(shù)：

工作溫度：室溫～400℃（取決于探針）

升溫速錄：600000℃/min

溫度分辨率：0.1℃

空間分辨率：10nm～100nm

應(yīng)用：

材料研究

有機(jī)物及生物材料研究

聚合物多相分離研究

晶體突變研究

事故原因分析

界面微區(qū)研究

催化劑研發(fā)