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詳細(xì)介紹
原子力顯微鏡是一種用來研究材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器。它通過待測樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì)，從而在掃描樣品時(shí)獲得樣品表面納形態(tài)的納米級(jí)結(jié)構(gòu)信息及粗糙度信息。
瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡可以提供全面的原子力顯微功能，包含所有常規(guī)成像模式，的三軸獨(dú)立閉環(huán)掃描器能獲得既具有高分辨率又僅有低噪音的高質(zhì)量圖像，*避免了傳統(tǒng)的管式掃描固有的耦合誤差等缺陷。
瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡安裝簡單，操作方便，預(yù)裝懸臂使原子力探針安裝一步到位，自動(dòng)下針，軟件移動(dòng)樣品臺(tái)實(shí)現(xiàn)高效率區(qū)域定位，界面簡單，沒有復(fù)雜的軟件界面和參數(shù)設(shè)置。只需要簡單的幾個(gè)參數(shù)設(shè)計(jì)就可以快速成像，*的光學(xué)顯微鏡和直觀的軟件使用戶非常方便的獲取樣品表面圖像信息，
瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡擴(kuò)展功能*，可以與多種模塊結(jié)合，完成納米級(jí)的紅外光譜分析、紅外吸收光譜成像、電學(xué)，磁學(xué)，納米力學(xué)等各種材料微區(qū)物理性能的表征，應(yīng)用范圍非常廣泛。是實(shí)現(xiàn)現(xiàn)代材料納米尺度研究基本的研究手段之一。
瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡具有特殊的熱探針技術(shù)，配備的納米熱分析模塊，可提供納米尺度熱轉(zhuǎn)變溫度測量和原位熱加工，方便快速的對(duì)軟質(zhì)材料如共混物/混合物/多層膜等進(jìn)行局部熱分析鑒定。
瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡和LCR力學(xué)性能檢測模塊結(jié)合，可以進(jìn)行快速寬頻的納米機(jī)械光譜分析，多組分試樣能夠在多種頻率下成像，每種成分都能夠被單獨(dú)的識(shí)別和成像，方便快速的獲得異質(zhì)材料如共混物、混合物等各組分的分布情況。
瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡可以進(jìn)一步升級(jí)具有納米尺度紅外光譜檢測（nanoIR）或散射式光學(xué)近場顯微鏡功能（s-SNOM），nanoIR將紅外光譜技術(shù)和原子力顯微鏡結(jié)合到一起，具有100nm以下紅外光譜采集和紅外吸收成像能力。s-SNOM具有10nm分辨率近場光學(xué)成像能力。升級(jí)后，系統(tǒng)可同時(shí)具有表面形貌表征、熱轉(zhuǎn)變溫度檢測、力學(xué)性能檢測和微區(qū)成分檢測功能。
三種聚合物在原子力顯微鏡下的表面剛度
主要參數(shù)：
平面掃描范圍：<80x80um
平面分辨率：<0.2nm
縱向掃描范圍：>6um
縱向分辨率：<0.2nm
高度噪音：<50pm
載物臺(tái)：7mmx9mm，馬達(dá)自動(dòng)控制
工作模式：接觸模式、非接觸模式、敲擊模式
標(biāo)準(zhǔn)模塊：相位、橫向力（摩擦）、力曲線、力調(diào)制、靜電力和磁力模塊
選配模塊：導(dǎo)電力模式，表面電勢模塊
光學(xué)分辨率：1.5um
光學(xué)顯微鏡可視場： ～900x600um
應(yīng)用：
生物研究，生物細(xì)胞表面形態(tài)觀察
晶體生長機(jī)理研究
金屬及半導(dǎo)體表面形態(tài)、表面重構(gòu)、表面電子態(tài)研究
現(xiàn)場電化學(xué)研究
各類粉體材料及多晶固體材料的微區(qū)形貌表征及納米性能研究
高分子等復(fù)合材料應(yīng)用的納米微區(qū)形貌和性能表征研究
電池材料、催化劑材料、納米材料的微區(qū)形貌與性能分析
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