| 參考價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
TM系列臺(tái)式電子顯微鏡專用能譜儀（EDS）Quantax75
操作簡(jiǎn)單且直觀
*和TM4000Plus搭配應(yīng)用實(shí)例
*探測(cè)器內(nèi)置型
(制造商: 德國(guó)Bruker nano GmbH)
僅需選擇圖像和模板，即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí)，實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等多種分析。
可根據(jù)點(diǎn)位置移動(dòng)實(shí)時(shí)追蹤譜圖，輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。
分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素，并顯示正確結(jié)果。
檢測(cè)器
| 項(xiàng)目 | 內(nèi)容 |
|---|---|
| 探測(cè)器類型 | 硅漂移探測(cè)器 |
| 探測(cè)器面積 | 30 mm2 |
| 能量分辨率 | 148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα?xí)r不高于129 eV) |
| 可檢測(cè)元素 | B5～Cf98 |
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移動(dòng)站：TM系列臺(tái)式電子顯微鏡專用能譜儀（EDS）Quantax75
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