| 參考價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
SEK制冷型微型光纖光譜儀
SEK是一款科研級(jí)適用于極弱光檢測(cè)的微型光譜儀，采用濱松面陣背照式探測(cè)器FFT-CCD，*的光學(xué)平臺(tái)及光學(xué)組件設(shè)計(jì)，具有更低的雜散光和更高的靈敏度。
SEK采用片上熱電制冷技術(shù)，可將探測(cè)器的溫度降到低于環(huán)境溫度40℃以下，能夠有效地降低系統(tǒng)的熱電噪聲，極大的提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性，對(duì)于熒光、拉曼等弱光檢測(cè)更具優(yōu)勢(shì)。
制冷型光纖光譜儀
產(chǎn)品參數(shù)
u 探測(cè)器
參數(shù) | 指標(biāo) |
探測(cè)器名稱 | Hamamatsu S7031 |
探測(cè)器類型 | 面陣背照式FFT-CCD |
像素 | 1044 x 64 total pixels |
量子化效率 | 250nm處85%，峰值95% |
探測(cè)器面積 | 縱 / 橫: 24.576 mm / 1.392 mm |
暗電流噪音 | 10 e-/pixel/sec @ 0 oC |
制冷 | 內(nèi)一級(jí)熱電制冷 |
u 光譜特性
參數(shù) | 指標(biāo) |
波長(zhǎng)范圍 | 視光柵而定，可從190~1100 nm |
光學(xué)分辨率 | 0.17~7.67 nm |
信噪比 | 1000:1 |
A/D位數(shù) | 16 bits |
暗噪聲 | 6 RMS Counts @10 ms |
動(dòng)態(tài)范圍 | 12000:1 |
積分時(shí)間 | 8 ms~15 min |
雜散光 | ＜0.08% @ 602 nm，0.4%@435 nm |
矯正線性度 | > 99% |
產(chǎn)品性能
? 可長(zhǎng)時(shí)間曝光，提高光譜儀對(duì)極弱光的響應(yīng)能力
? 采用熱電內(nèi)制冷技術(shù)，有效地降低了光譜儀的暗噪音
? *的光路平臺(tái)設(shè)計(jì)，使得靈敏度和分辨率顯著提高
? 寬譜段效率均衡，最寬范圍可達(dá)190~1100 nm
型號(hào)說(shuō)明
型號(hào) | 說(shuō)明 |
SEK | 制冷型微型光纖光譜儀（350~1100 nm） |
SEK-EX | 制冷型微型光纖光譜儀（全波段） |
SEK | 定制不同波段的微型光譜儀 |
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