日本 MOUNTECH HM-1201 比表面積分析儀日本 MOUNTECH HM-1201 比表面積分析儀

設備基礎規(guī)格

• 測量原理：BET 流動法，依據(jù) JIS Z8830:2013

• 測量范圍：0.01~4000㎡/g，受樣品特性影響

• 測量精度：可重復性 ±1%（取決于樣本）

• 單次測量時長：約 15 分鐘 / 1 份樣本，不含前處理

• 脫氣溫度：400℃

• 本體尺寸：寬 310× 深 620× 高 570mm

• 本體重量：約 30kg

• 適用氣體：純氮氣、氮氦混合氣體

• 配套 PC 系統(tǒng)：Windows7/8/10，32/64 位兼容這款 MOUNTECH HM-1201 比表面積分析儀依托 BET 流動法技術，符合 JIS Z8830 日本工業(yè)標準，可精準測定各類粉體的比表面積。設備本體與自動取樣器采用單元模塊化設計，用戶可先采購主機，后續(xù)按需加裝自動取樣模塊，靈活升級檢測通量。人機交互界面簡潔直觀，操作人員無需長期專業(yè)培訓即可上手操作?？蛇x配件包含外部脫氣裝置、預熱器、成型品測量單元等，適配多樣化樣品前處理與測試需求。儀器支持單點法與多點法兩種 BET 測試模式，可切換不同比例氮氦混合氣開展檢測，樣品脫氣溫度 400℃，能充分去除樣品表面吸附雜質，保障檢測數(shù)據(jù)穩(wěn)定。單次樣品檢測約 15 分鐘，檢測重復性可達 ±1%。整機體積緊湊，重量約 30kg，便于實驗室安放。PC 端配套控制分析軟件，可完成數(shù)據(jù)采集、運算與報告輸出，軟件對電腦硬件要求適中，普通 Windows 電腦即可運行。設備擴展性強，可根據(jù)樣品類型搭配各類選件，適配粉體研發(fā)與品質管控場景。適用場景：電子元件材料、電池材料、顏料、碳粉、催化劑、制藥原料、金屬粉末、填料、陶瓷、研磨劑、化妝品、功能性粉體等材料的比表面積檢測，用于新材料研發(fā)、進廠質檢、成品性能驗證。