日本大塚電子 ELSZneo 粒度電位分析儀日本大塚電子 ELSZneo 粒度電位分析儀設(shè)備基礎(chǔ)規(guī)格

• 光源：窄帶半導(dǎo)體激光器

• 檢出器：高感度 APD

• 測量項目：粒徑、Zeta 電位、分子量、粒子濃度、微流變學(xué)、凝膠網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)分析

• 溫度范圍：0?90℃，具備溫度梯度功能

• 設(shè)備尺寸：330 (W)×565 (D)×245 (H) mm

• 功耗：250VA

• 整機(jī)重量：22kg

• 粒徑測量原理：動態(tài)光散射法，測量范圍 0.6nm?10μm

• Zeta 電位測量原理：電泳光散射法，無有效測量上限

• 分子量測量原理：靜態(tài)光散射法，測量范圍 340?2×10?

• 濃度適用范圍：0.00001?40%

• 軟件語言：日語、英語、韓語、中文簡體、中文繁體

這款日本大塚電子 ELSZneo 粒度電位分析儀是一體化多參數(shù)檢測設(shè)備，融合動態(tài)光散射、電泳光散射、靜態(tài)光散射三種核心檢測原理，一臺設(shè)備就可以完成納米顆粒粒徑、Zeta 電位、分子量、粒子濃度等多項關(guān)鍵物性指標(biāo)檢測，有效減少多臺儀器采購成本與樣品轉(zhuǎn)移帶來的測試誤差。設(shè)備對樣品兼容性強(qiáng)，從稀薄低濃度樣品到高濃度懸浮體系都可直接開展測試，無需繁瑣稀釋預(yù)處理，能夠保留樣品原始狀態(tài)，保障測試數(shù)據(jù)真實有效。儀器搭載零差法與外差法光學(xué)系統(tǒng)，搭配高靈敏度 APD 檢出器，微弱信號也可以精準(zhǔn)捕捉，同時配備殘差功能，直觀反饋每一組測試數(shù)據(jù)的可靠程度，便于操作人員快速甄別無效數(shù)據(jù)。Zeta 電位測量模塊引入森?岡本公式，消除樣品池電滲流干擾，不僅可以測試懸浮顆粒，還能夠完成平板、薄膜類樣品表面 Zeta 電位評估，可模擬生物鹽溶液環(huán)境以及不同 pH 條件開展實驗。分子量檢測依靠靜態(tài)光散射法，無需標(biāo)準(zhǔn)標(biāo)樣即可輸出分子量，同時可獲取第二維里系數(shù)等關(guān)鍵參數(shù)。設(shè)備自帶 0?90℃寬域溫控，支持溫度梯度實驗，滿足高分子相變、膠體溫度穩(wěn)定性研究需求。配套功能的分析軟件，涵蓋多種計算算法，滿足科研、研發(fā)、質(zhì)控不同分析習(xí)慣，軟件兼容 FDA 相關(guān)規(guī)范，多語種界面降低國內(nèi)人員操作門檻，整機(jī)結(jié)構(gòu)緊湊，占用實驗室臺面空間小，樣品池配件豐富，微量、常規(guī)、流通式樣品均可適配，大幅拓展實際測試場景。

適用于高校科研實驗室、材料研發(fā)企業(yè)、生物醫(yī)藥、化工涂料、納米粉體、高分子、日化制劑等領(lǐng)域。可用于納米顆粒、膠體懸浮液、乳液、蛋白生物樣品、高分子溶液、顏料漿料等物料的理化性能評估，支持新材料配方研發(fā)、生產(chǎn)過程質(zhì)量管控、產(chǎn)品穩(wěn)定性驗證、表面改性效果評價，也可開展平板薄膜材料表面電荷特性研究，為配方優(yōu)化、工藝改進(jìn)、產(chǎn)品質(zhì)量判定提供可靠量化檢測數(shù)據(jù)支撐