日本 JEOL  桌上型元素分析掃描電子顯微鏡 日本 JEOL  桌上型元素分析掃描電子顯微鏡

1. 型號(hào)

型號(hào)：JCM-7000Plus NeoScope™ 桌上走查電子顯微鏡（臺(tái)式掃描電鏡 SEM），品牌 JEOL 日本電子。

2. 產(chǎn)品性能

本機(jī)為升級(jí)款臺(tái)式 SEM，新增 20kV 加速電壓，高真空模式下二次電子圖像分辨率可達(dá) 6nm，搭載升級(jí)自動(dòng)圖像調(diào)整功能，自動(dòng)完成聚焦、像差、亮度、對(duì)齊。支持高真空、低真空兩種模式；低真空模式可直接觀測(cè)樣品，無需噴金預(yù)處理。具備 4 大 Live 實(shí)時(shí)觀測(cè)功能：實(shí)時(shí)元素分析、元素分布地圖、實(shí)時(shí) 3D 形貌重建、活體粒子自動(dòng)粒徑測(cè)量?？蛇x NeoAction 自動(dòng)化模塊，預(yù)設(shè)測(cè)量流程，自動(dòng)完成多位置觀測(cè)、圖像采集、元素分析并自動(dòng)生成報(bào)告，實(shí)現(xiàn)無人化重復(fù)測(cè)試。配套 Zeromag 功能，可從光學(xué)圖像無縫定位 SEM 觀測(cè)視野。

3. 參數(shù)表

表格

4. 用途 & 適用行業(yè)

• 粉體行業(yè)：氧化硅、氧化鋅顆粒粒徑自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、形貌觀測(cè)

• 電子行業(yè)：電子元器件截面、失效分析、元素分布檢測(cè)

• 材料行業(yè)：金屬斷口形貌、纖維、復(fù)合材料微觀結(jié)構(gòu)觀察

• 質(zhì)檢領(lǐng)域：建材、高分子、礦物樣品的微觀形貌 + EDS 元素定性分析

5. 使用說明

1. 樣品放置：樣品固定于樣品臺(tái)，確認(rèn)樣品尺寸不超過規(guī)格；導(dǎo)電不良樣品可選用低真空模式，免噴金。

2. 視野定位：使用 Zeromag 光學(xué)預(yù)覽，選定目標(biāo)觀測(cè)區(qū)域，一鍵切換至 SEM 視野。

3. 參數(shù)設(shè)置：選擇高 / 低真空模式，設(shè)置加速電壓，設(shè)備自動(dòng)圖像校準(zhǔn)。

4. 觀測(cè)分析：采集形貌圖像，開啟實(shí)時(shí) EDS 元素分析、元素 mapping、3D 重構(gòu)；粉體樣品啟用粒子自動(dòng)測(cè)量。

5. 自動(dòng)化測(cè)量（選配 NeoAction）：預(yù)先錄制測(cè)試流程，設(shè)備自動(dòng)執(zhí)行多點(diǎn)觀測(cè)、數(shù)據(jù)采集、報(bào)告導(dǎo)出。

6. 測(cè)試結(jié)束，保存圖像與分析數(shù)據(jù)，取出樣品，關(guān)機(jī)保存設(shè)備狀態(tài)。

6. 適用行業(yè)

半導(dǎo)體、電子元器件、新材料、粉末冶金、高分子、涂料、環(huán)境檢測(cè)、質(zhì)檢實(shí)驗(yàn)室、高?？蒲?。