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制藥網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>儀器儀表>物性測試儀器>其它物性測試儀器>1 TSS-5X型遠紅外放射率測定儀

  • TSS-5X型遠紅外放射率測定儀
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參考價 10
訂貨量 ≥10
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
廠商性質(zhì)

經(jīng)銷商

型號

1

訪問次數(shù)

31

產(chǎn)地

廣東深圳市

更新時間

2026/9/7 14:46:11

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產(chǎn)品簡介

TSS-5X型遠紅外放射率測定儀產(chǎn)品參數(shù)

產(chǎn)地 進口 產(chǎn)品新舊 全新
JAPAN SENSOR(日本傳感器)TSS-5X型遠紅外放射率測定儀,專為常溫環(huán)境下高精度、無損測量各類物體表面紅外發(fā)射率而設(shè)計。該設(shè)備基于紅外反射率與發(fā)射率的熱力學(xué)關(guān)系,采用半球面黑體爐作為遠紅外照射源,配合高靈敏度紅外檢測元件,實現(xiàn) 0.00~1.00 范圍、±0.01 精度的穩(wěn)定測量。測量波長覆蓋 2~22μm 遠紅外全波段,測量面積僅 Φ15mm,適用于熱設(shè)計、半導(dǎo)體研發(fā)、表面處理質(zhì)

TSS-5X型遠紅外放射率測定儀詳細信息

JAPAN SENSOR(日本傳感器)TSS-5X型遠紅外放射率測定儀 一、產(chǎn)品概述

TSS-5X 型遠紅外線放射率測定器由日本 JAPAN SENSOR 公司研發(fā)生產(chǎn),是一款常溫、無損、高精度的紅外發(fā)射率測量設(shè)備。該儀器無需對樣品進行加熱、涂覆或任何破壞性處理,在 10~40℃ 常溫狀態(tài)下即可快速測定材料表面的紅外發(fā)射率,廣泛應(yīng)用于熱設(shè)計、半導(dǎo)體器件研發(fā)、金屬表面處理質(zhì)檢及紅外測溫校準(zhǔn)等高精度檢測場景。

JAPAN SENSOR(日本傳感器)TSS-5X型遠紅外放射率測定儀 二、測量原理

該設(shè)備基于紅外反射率與發(fā)射率的熱力學(xué)關(guān)系(發(fā)射率 = 1 - 反射率)進行非接觸式測量:
  1. 紅外照射:設(shè)備內(nèi)部恒溫加熱的半球面黑體爐作為穩(wěn)定遠紅外照射源,向待測樣品表面集中照射紅外能量。

  2. 反射檢測:從樣品表面反射的紅外能量部分反向進入半球面黑體爐頂點的小孔,被高靈敏度紅外檢測元件接收。

  3. 自動演算:內(nèi)置高精度演算回路根據(jù)接收到的反射能量大小,自動計算樣品發(fā)射率并直接數(shù)字顯示。

三、核心技術(shù)特點

  1. 常溫?zé)o損快速測量:無需加熱或涂覆樣品,在常溫(10~40℃)下即可直接測量,大幅提升實驗與產(chǎn)線質(zhì)檢效率。

  2. 高精度與廣譜測量:測量范圍 0.00~1.00,額定精度 ±0.01;測量波長覆蓋 2~22μm 遠紅外全波段,精準(zhǔn)捕捉絕大多數(shù)材料的熱輻射特性。

  3. 精密微區(qū)檢測:測量面積僅 Φ15mm,通過固定腳柱將測量距離精確控制在 12mm,可精準(zhǔn)測量零件表面特定微小區(qū)域的發(fā)射率差異。

  4. 智能化數(shù)據(jù)輸出:內(nèi)置高精度演算回路,支持 0-0.1V 或 0-1V 模擬量滿載信號輸出,可外接記錄器或電腦進行數(shù)據(jù)自動記錄與曲線繪制。

  5. 原廠精密校準(zhǔn):附贈已知精確發(fā)射率的標(biāo)準(zhǔn)基準(zhǔn)片(ε=0.06 與 ε=0.94),可隨時對儀器進行校準(zhǔn),確保長期測量準(zhǔn)確性。

四、主要技術(shù)參數(shù)

表格
下載為表格
導(dǎo)出為圖片
參數(shù)項目技術(shù)指標(biāo)
測量波長2 ~ 22 μm
測量范圍0.00 ~ 1.00
額定精度±0.01
測量面積Φ15mm
測量距離12mm(固定腳柱鎖定)
被測物溫度要求10 ~ 40℃
模擬輸出信號0-0.1V 或 0-1V(滿載)
工作溫度/濕度10-45℃;35-85% RH(無結(jié)露)
電源規(guī)格AC100V ±10%,50/60Hz
探測頭尺寸Φ51 × 137mm(約 0.5Kg)
主機本體尺寸H170 × W306 × D230mm(約 5Kg)

五、典型應(yīng)用領(lǐng)域

  • 熱設(shè)計與工程應(yīng)用:航空航天、核電、半導(dǎo)體設(shè)備研發(fā)中關(guān)鍵零部件發(fā)射率測量,用于優(yōu)化芯片散熱、熱防護層設(shè)計及加熱設(shè)備輻射效率優(yōu)化。

  • 表面處理效果評估:量化測量金屬材料(鋁、不銹鋼、銅等)經(jīng)電鍍、拋光、氧化、噴涂等工藝前后的發(fā)射率變化,驗證表面處理工藝達標(biāo)率。

  • 紅外測溫補正:在使用輻射式溫度計測量高溫物體時,預(yù)先測得準(zhǔn)確發(fā)射率后輸入紅外測溫儀,消除因發(fā)射率差異導(dǎo)致的測量偏差。

  • 科研與節(jié)能材料開發(fā):材料及實驗領(lǐng)域用于篩選、對比蓄熱斷熱材料、紅外輻射材料及新型高分子復(fù)合材料的熱學(xué)性能。


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