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超聲波掃描顯微鏡

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱蘇州科冠電子科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號D9600Z™ C?SAM®
  • 所  在  地蘇州市
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時間2026/8/5 8:30:22
  • 訪問次數(shù)9
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蘇州科冠電子科技有限公司,多年來致力于將世界杰出品牌的高科技檢測設(shè)備和相關(guān)產(chǎn)品解決方案帶給中國及亞洲的廣大客戶,并為客戶提供*的售后服務(wù)。我們分布在中國,馬來西亞,泰國,新加坡等地區(qū),為研發(fā)制造型企業(yè)提供上等的檢測設(shè)備和解決方案,行業(yè)涵蓋 半導(dǎo)體,航空航天,大學(xué),汽車電子,研究機(jī)構(gòu)等各種領(lǐng)域。隨著公司積累和壯大,我們不斷引進(jìn)*的革新技術(shù),更加可靠的解決方案。我們秉持產(chǎn)品上等,服務(wù)至上的原則。相信我們,選擇我們,一定給您帶來更多的驚喜!
離子檢測儀
簡單介紹: 超聲波掃描顯微鏡D9600Z™ C?SAM®用于電源模塊檢查
超聲波掃描顯微鏡 產(chǎn)品信息
詳情介紹:
 超音波掃描光學(xué)顯微鏡D9600Z™ C?SAM®用以電源模塊查驗。 它是*早含有反過來傳感器的聲學(xué)光學(xué)顯微鏡,容許從底端掃描樣版。針對很多IGBT(絕緣層?xùn)烹p極三極管)模塊而言,底端掃描是必需的,在其中頂端構(gòu)件務(wù)必杜絕用以將超聲波從傳感器藕合到試品的水。D9600Z配備為根據(jù)2個環(huán)節(jié)另外查驗2個模塊,應(yīng)用SonoMatched™傳感器和WaterPlume™耦合器。將超音波單脈沖到熱管散熱器中,掃描傳感器接受操作員挑選的原材料界面的回音。雷達(dá)回波能夠在不一樣的界面上開展選通,比如在將熱管散熱器聯(lián)接到瓷器排到的焊錫絲上。因為反射面水準(zhǔn)十分高,此深層處的間隙、無粘接、縫隙或別的空隙在聲學(xué)統(tǒng)計數(shù)據(jù)上面顯示信息為亮乳白色。優(yōu)良融合的界面將是深灰色的。

 實際操作工作人員可以在木筏、磨具附注、磨具或一切有關(guān)深層上設(shè)定水閘。根據(jù)應(yīng)用新的Polygate™手機(jī)軟件,操作員能夠挑選高達(dá)100個門——每一門都將顯示信息自身的聲學(xué)圖象。

 這類多功能化大自然有利于對內(nèi)部缺點開展精準(zhǔn)剖析,并對層薄厚開展內(nèi)部測定,比如應(yīng)用Time Difference™模塊的電焊焊接層。此軟件模塊還投射樣版全部地域的薄厚轉(zhuǎn)變,并且以圖象方式顯示。 Maximum Flexibility for Detailed C-SAM® Inspections of Power Modules  

 The D9600Z incorporates the latest C-SAM® (C-Mode Scanning Acoustic Microscope) technology with enhanced features to accommodate the testing of Power Modules as well as to performing standard  C-SAM operations.  This new system configuration is optimized for inspection of heatsink bond integrity, thickness of bond layer and wire bond welds.  Powered by our Sonolytics™ software platform with Polygate™ technology, the D9600Z™ is ideal for failure analysis, process development and QC screening in low-volume production environments.  

 Features:   

 ? WaterPlume™ configuration scans from underneath, keeping the top surface of the power module dry.  

 ? Available in Dual and Single WaterPlume configurations. 

 ? Completely automated, including integrated drying of the  module's bottom surface after testing. 

 ? Visual PolyGate™ technology with Multi-Gate™ and Probing-Gate™ functions to detect: o Voids in the die attach, between the die and a ceramic insulator o Voids between the ceramic substrate and the base plate o Thickness of the bond layer  o Cracks, chips and other defects in the copper clad ceramic substrate o Planarity of the die, insulator (raft) and base plate (heat sink) relative to each other 


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