簡要描述： GDOES光譜儀GDA 550 HR和GDA 750 HR是**的GDOES光譜儀，非常適合研發(fā)任務(wù)?；谀K化概念，可以設(shè)想多種選項組合，因此可以為您的應(yīng)用實現(xiàn)*佳配置。GDA 550 HR主要用于研究您的導(dǎo)電樣品。GDA 750 HR也用于分析不導(dǎo)電樣品

我們分析系統(tǒng)的產(chǎn)品系列

GDOES光譜儀GDA 550 HR和GDA 750 HR是**的GDOES光譜儀，非常適合研發(fā)任務(wù)?；谀K化概念，可以設(shè)想多種選項組合，因此可以為您的應(yīng)用實現(xiàn)*佳配置。GDA 550 HR主要用于研究您的導(dǎo)電樣品。GDA 750 HR也用于分析不導(dǎo)電樣品

GDA 750 HR

通過光電倍增管可檢測多達79個可能的元素通道，GDA 750 HR輝光放電光譜儀是您的具有挑戰(zhàn)性的應(yīng)用的理想光譜儀。它提供了的靈活性，*佳的檢測限和分析精度，即使是*薄的層。

可選的高分辨率SPECTRUMA CCD光學(xué)元件擴展了GDA 750 HR的功能，能夠?qū)缀鯚o限數(shù)量的元素通道集成到您的分析工作中。

GDA 750 HR的特點：
GDA 750 HR配備了一個可以無碳氫化合物測量的渦旋泵。
GDA 750 HR標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備還包括一個高頻輝光放電源。這也允許分析不導(dǎo)電的樣品。
使用等離子體干擾可以更容易地分析難以刺激的樣品。

GDA 750 HR的應(yīng)用領(lǐng)域從熱處理到鍍鋅到復(fù)雜的多層系統(tǒng)。

• 由于PMT的快速數(shù)據(jù)采集，也可以檢測到低于100nm的層

• 測量深度達200微米

• 具有快速數(shù)據(jù)采集的深度剖面，即使對于非導(dǎo)電層（如幾納米厚度的氧化物）也是如此

• 所有金屬和金屬合金的含量分析

• 分析非導(dǎo)電樣品，如陶瓷，玻璃或漆涂層

• 校準(zhǔn)曲線的線性

• 可以測量彎曲甚至形狀異常的樣品。

注：該儀器未取得中華人民共和國注冊證，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途