儀器簡(jiǎn)介：

TE空洞共振腔專(zhuān)用于測(cè)量厚度小于0.3mm一下的薄膜，支持5G（第五代移動(dòng)通信系統(tǒng)），可達(dá)40GHz的頻率。

有固定的間隙用于插入待測(cè)樣品，并且在測(cè)量穩(wěn)定性方面優(yōu)于將樣品夾在諧振器中的方法。

可以測(cè)量各種材料（例如軟樣品和脆性樣品）的介電常數(shù)。

 技術(shù)參數(shù)：

可測(cè)試頻率范圍： 10G-40GHz

介電常數(shù)Epsilon：1-5，   準(zhǔn)確度： ±1%，

介電損耗tangent delta：0.01-0.0001，  準(zhǔn)確度：±5%

樣品形狀：片狀（厚度0.3mm以下，40mm正方形以上）

符合標(biāo)準(zhǔn)JIS R1641 IPC-TM650 2.5.5.13

擁有多種腔體，每個(gè)腔可測(cè)一個(gè)頻點(diǎn):

 主要特點(diǎn)：

TE空洞共振腔（Cavity Resonator ），專(zhuān)門(mén)用于測(cè)量厚度小于0.3mm一下的薄膜。

 應(yīng)用領(lǐng)域： 

主要應(yīng)用于5G材料，例如薄膜等。

高速數(shù)字/微波電路用基底材料 ；濾波器和介電天線(xiàn)用低損耗電介質(zhì) ；化學(xué)制品； 

薄膜與新材料；半導(dǎo)體材料；電子材料（包括CCL和PCB）

  相關(guān)資料

 ·日本AET高頻（微波）介電常數(shù)分析儀