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制藥網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>儀器儀表>光學分析儀器>電子顯微鏡>SEM3200 國儀量子 SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡

  • 國儀量子 SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡
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品牌

廠商性質(zhì)

其他

型號

SEM3200

訪問次數(shù)

116

產(chǎn)地

北京市

更新時間

2026/2/3 15:12:09

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產(chǎn)品簡介

SEM3200是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。大景深,成像富有立體感。豐富的擴展性,助您在顯微成像的世界中盡情探索。...

國儀量子 SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡詳細信息

SEM3200是一款高性能、應用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。

大景深,成像富有立體感。豐富的擴展性,助您在顯微成像的世界中盡情探索。

 

豐富的擴展性
SEBSEEDSEBSD等

光學導航
可快速定位目標樣品和感興趣區(qū)域

*大圖拼接
可實現(xiàn)全自動的采圖和拼接,展示超大視野畫面

圖像混合成像(SE+BSE)
在一個圖像中觀察到樣品的成分和表面信息

*雙陽極結(jié)構(gòu)
雙陽極結(jié)構(gòu)設(shè)計,提升了低電壓下的分辨率和成像質(zhì)量

*低真空模式
在低真空下提供樣品表面細節(jié)和形貌,軟件一鍵切換真空狀態(tài)

 

產(chǎn)品特點(*為選配件)

 

? 低電壓

碳材料樣品,低電壓下,穿透深度較小,可以獲取樣品表面真實形貌,細節(jié)更豐富。

毛發(fā)樣品,在低電壓下,電子束輻照損傷減小,同時消除了荷電效應。

 

? 低真空

過濾纖維管材料,導電性差,在高真空下荷電明顯,在低真空下,無需鍍膜即可實現(xiàn)對不導電樣品的直接觀察。

 

? 大視場

生物樣品,采用大視場觀察,能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結(jié)構(gòu)細節(jié),展現(xiàn)跨尺度分析。

 

? 導航&防碰撞

光學導航

想看哪里點哪里,導航更輕松
標配倉內(nèi)攝像頭,可拍攝高清樣品臺照片,快速定位樣品。
 

手勢快捷導航

可通過雙擊移動、鼠標中鍵拖動、框選放大,進行快捷導航
如框選放大:在低倍導航下,獲得樣品的大視野情況,可快速框選您感興趣的樣品區(qū)域,提高工作效率。
 

防碰撞技術(shù)

采取多維度的防碰撞方案:
1. 手動輸入樣品高度,精準控制樣品與物鏡下端距離,防止發(fā)生碰撞;
2. 基于圖像識別和動態(tài)捕捉技術(shù),運動過程中對倉內(nèi)的畫面進行實時監(jiān)測;
3. 硬件防碰撞,可在碰撞一瞬間停止電機,減少碰撞損傷。(*SEM3200A需選配此功能)

 

特色功能

智能輔助消像散

直觀反映整個視野的像散程度,通過鼠標點擊清晰處,可快速調(diào)節(jié)像散至。

自動聚焦

一鍵聚焦,快速成像。

自動消像散

一鍵消像散,提高工作效率。

自動亮度對比度

一鍵自動亮度對比度,調(diào)出灰度合適圖像。

多種信息同時成像

SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像。可同時觀察到樣品的形貌信息和成分信息。

快速圖像旋轉(zhuǎn)

拖動一條線,圖像立刻“擺正角度”。

 

豐富拓展性

掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察,更可以進行樣品表面的微區(qū)成分分析。

SEM3200接口豐富,除支持常規(guī)的二次電子探測器(ETD)、背散射電子探測器(BSED)、X射線能譜儀(EDS)外,也預留了諸多接口,如電子背散射衍射(EBSD)、陰極射線(CL)等探測器都可以在SEM3200上進行集成。

 

背散射電子探測器
  二次電子成像和背散射電子成像對比

背散射電子成像模式下,荷電效應明顯減弱,并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。

鍍層樣品:

國儀量子 SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡

鎢鋼合金樣品:

國儀量子 SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡
 

四分割背散射電子探測器——多通道成像

探測器設(shè)計精巧,靈敏度高,采用4分割設(shè)計,無需傾斜樣品,可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像。

國儀量子 SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡

 

能譜

LED小燈珠能譜面分析結(jié)果。

 

電子背散射衍射

鎢燈絲電鏡束流大,滿足高分辨EBSD的測試需求,能夠?qū)饘?、陶瓷、礦物等多晶材料進行晶體取向標定以及晶粒度大小等分析。

該圖為Ni金屬標樣的EBSD反極圖,能夠識別晶粒大小和取向,判斷晶界和孿晶,對材料組織結(jié)構(gòu)進行精確判斷。

 

應用案例

國儀量子 SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡

國儀量子 SEM3200鎢燈絲掃描電子顯微鏡
 

產(chǎn)品參數(shù)

型號 SEM3200A SEM3200
電子光學系統(tǒng) 電子槍類型 預對中型發(fā)叉式鎢燈絲電子槍
分辨率 高真空 3 nm @ 30 kV(SE)
4 nm @ 30 kV(BSE)
8 nm @ 3 kV(SE)
*低真空 3 nm @ 30 kV(SE)
放大倍率 1-300,000x(底片倍率)
1-1000,000x(屏幕倍)
加速電壓 0.2 kV~30 kV
成像系統(tǒng) 探測器 二次電子探測器(ETD)
*背散射電子探測器、*低真空二次電子探測器、*能譜儀EDS等
圖像保存格式 TIFF、JPG、BMP、PNG
真空系統(tǒng) 真空模式 高真空 優(yōu)于5×10-4 Pa
*低真空 5~1000 Pa
控制方式 全自動控制
樣品室 攝像頭 光學導航
樣品倉內(nèi)監(jiān)控
樣品臺配置 三軸自動 五軸自動
行程 X: 120 mm X: 120 mm
Y: 115 mm Y: 115 mm
Z: 50 mm Z: 50 mm
/ R: 360°
/ T: -10°~ +90°
軟件 語言 中文
操作系統(tǒng) Windows
導航 光學導航、手勢快速導航
自動功能 自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散
特色功能 智能輔助消像散、*大圖拼接(選配軟件)
安裝要求 房間 長 ≥ 3000 mm,寬 ≥ 4000 mm,高 ≥ 2300 mm
溫度 20 ℃~25 ℃
濕度 ≤ 50 %
電氣參數(shù) 電源AC 220 V(±10 %),50 Hz,2 kVA


關(guān)鍵詞:電子顯微鏡 顯微鏡

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