ThermoTST ATC840通過(guò)測(cè)試頭與DUT之間直接接觸,將DUT的溫度(殼溫或者結(jié)溫)調(diào)整到目標(biāo)溫度點(diǎn)進(jìn)行相應(yīng)的性能測(cè)試。同時(shí)適用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待測(cè)芯片溫度而不影響外圍電路,排除外圍電路引起的不確定性。
ATC840接觸式高低溫沖擊機(jī)三溫測(cè)試臺(tái)熱流儀
特點(diǎn)
有效溫度范圍,-55℃至+200℃
溫度穩(wěn)定性±0.5℃
觸摸屏操作,人機(jī)交互界面
支持DUT溫度控制
桌面設(shè)計(jì),低噪音、低震動(dòng)、低環(huán)境散熱
溫度波動(dòng)小
低溫環(huán)境測(cè)試無(wú)冷凝
ATC840接觸式高低溫沖擊機(jī)三溫測(cè)試臺(tái)熱流儀
應(yīng)用
適用于IC特性、測(cè)試和失效分析:
ATE, SLT和工作臺(tái)
高低溫測(cè)試箱/低溫冷卻機(jī)代換
OEM集成
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
滿(mǎn)足美用標(biāo)準(zhǔn)MIL體系測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
滿(mǎn)足國(guó)內(nèi)元件GJB體系測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
滿(mǎn)足JEDEC測(cè)試要求
技術(shù)規(guī)格
| 有效溫度范圍 | -55 oC 至 + 200 oC |
| 典型溫度轉(zhuǎn)換率 | 25oC 至 -40 oC ; ≤2Min |
| 溫控精度 | ± 1 oC |
| 冷卻功率 | 355W @ 0℃;80W@ -30°C |
更多詳細(xì)參數(shù),請(qǐng)聯(lián)系我們!
ThermoTST ATC840通過(guò)測(cè)試頭與DUT之間直接接觸,將DUT的溫度(殼溫或者結(jié)溫)調(diào)整到目標(biāo)溫度點(diǎn)進(jìn)行相應(yīng)的性能測(cè)試。同時(shí)適用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待測(cè)芯片溫度而不影響外圍電路,排除外圍電路引起的不確定性。








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