| 參考價(jià) | ￥ 8888 |
| 訂貨量 | ≥1臺(tái) |
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 產(chǎn)地 | 國(guó)產(chǎn) | 產(chǎn)品大小 | 其他 |
| 產(chǎn)品新舊 | 全新 | 結(jié)構(gòu)類(lèi)型 | 其他 |
ThermoTST ATC840通過(guò)測(cè)試頭與DUT之間直接接觸，將DUT的溫度(殼溫或者結(jié)溫)調(diào)整到目標(biāo)溫度點(diǎn)進(jìn)行相應(yīng)的性能測(cè)試。同時(shí)適用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待測(cè)芯片溫度而不影響外圍電路，排除外圍電路引起的不確定性。
接觸式 高低溫氣流溫度沖擊系統(tǒng)氣流儀設(shè)備
特點(diǎn)
有效溫度范圍，-55℃至+200℃
溫度穩(wěn)定性±0.5℃
觸摸屏操作，人機(jī)交互界面
支持DUT溫度控制
桌面設(shè)計(jì)，低噪音、低震動(dòng)、低環(huán)境散熱
溫度波動(dòng)小
低溫環(huán)境測(cè)試無(wú)冷凝
接觸式 高低溫氣流溫度沖擊系統(tǒng)氣流儀設(shè)備
應(yīng)用
適用于IC特性、測(cè)試和失效分析：
ATE, SLT和工作臺(tái)
高低溫測(cè)試箱/低溫冷卻機(jī)代換
OEM集成
測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
滿足美用標(biāo)準(zhǔn)MIL體系測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
滿足國(guó)內(nèi)元件GJB體系測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
滿足JEDEC測(cè)試要求
技術(shù)規(guī)格
| 有效溫度范圍 | -55 oC 至 + 200 oC |
| 典型溫度轉(zhuǎn)換率 | 25oC 至 -40 oC ； ≤2Min |
| 溫控精度 | ± 1 oC |
| 冷卻功率 | 355W @ 0℃；80W@ -30°C |
更多詳細(xì)參數(shù)，請(qǐng)聯(lián)系我們！
ThermoTST ATC840通過(guò)測(cè)試頭與DUT之間直接接觸，將DUT的溫度(殼溫或者結(jié)溫)調(diào)整到目標(biāo)溫度點(diǎn)進(jìn)行相應(yīng)的性能測(cè)試。同時(shí)適用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待測(cè)芯片溫度而不影響外圍電路，排除外圍電路引起的不確定性。
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移動(dòng)站：接觸式 高低溫氣流溫度沖擊系統(tǒng)氣流儀設(shè)備
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