非飽和高壓老化試驗(yàn)箱適用于IC、PCB、LCD Board、電池、電容、電阻,及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴(lài)性試驗(yàn), 比較傳統(tǒng)之恒溫恒濕設(shè)備85/85%R.H.試驗(yàn)時(shí), 可以節(jié)省大量時(shí)間, 當(dāng)測(cè)試溫度越高, 壓力越大,測(cè)試時(shí)間縮短越多, 在質(zhì)量檢驗(yàn)上大量節(jié)省電力, 人力, 物力, 提升產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力.有多種型號(hào)可選擇。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.采用耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，在大程度上降低了使用故障率。

2.獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3.門(mén)鎖電控制動(dòng)結(jié)構(gòu)，解決產(chǎn)品圓盤(pán)式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。

a.獨(dú)特的無(wú)結(jié)露設(shè)計(jì)

b抽屜式滑動(dòng)托盤(pán)設(shè)計(jì)

c.飽和試驗(yàn)（STD）和不飽和試驗(yàn)（HUM）兩種試驗(yàn)?zāi)Ｊ?/span>

d.電子自動(dòng)門(mén)鎖緊結(jié)構(gòu)

e.多種排氣方式

f.可依據(jù)客戶(hù)需要，選配不同試驗(yàn)夾具

g.采用無(wú)風(fēng)扇內(nèi)部加熱循環(huán)，確保長(zhǎng)期使用無(wú)集塵產(chǎn)生。

4.試驗(yàn)前排冷空氣;試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)(試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

試驗(yàn)腔杜絕凝露結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，試驗(yàn)腔室干燥設(shè)計(jì)。                  

5.超長(zhǎng)效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間，長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)999小時(shí).

6.水位保護(hù)，透過(guò)試驗(yàn)室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).

7.耐壓設(shè)計(jì)，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測(cè)試6kg.

8.二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置

9.安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕 .

10.常規(guī)配備20組偏壓測(cè)試端子，內(nèi)外3.0快插設(shè)計(jì)（可增容）

11.USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

非飽和高壓老化試驗(yàn)箱性能參數(shù)：

設(shè)定溫度：+100 ℃  ～ +147 ℃( 蒸氣溫度 )

濕度范圍：75~100 % 蒸氣濕度

濕度控制穩(wěn)定度：±3%RH

使用壓力：1.2~2.89kg(含1atm)

時(shí)間范圍：0 Hr ～ 999 Hr

加壓時(shí)間：0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  約 45 分

溫度波動(dòng)均勻度：±0.5℃

溫度顯示精度：0.1℃

壓力波動(dòng)均勻度：±0.1Kg

濕度分布均度：±3%RH

試驗(yàn)箱材質(zhì)：

試驗(yàn)箱尺寸: HAST-50（∮500mm x L550 mm）圓型試驗(yàn)箱

全機(jī)外尺寸:  830x  1050x 1750 mm ( W * D * H )立式

內(nèi)桶材質(zhì): 不銹鋼板材質(zhì)（SUS# 316  3 mm）

內(nèi)腔干燥板：銅基+雙層鎳≥25um+低電流+磷10%-12%1+有機(jī)硅/PTFE封孔

外桶材質(zhì): 不銹鋼板材質(zhì)或選噴塑

保溫材質(zhì)：巖棉及硬質(zhì)polyurethane發(fā)泡保溫

蒸汽發(fā)室加熱管：鈦管加熱