HAST非飽和高壓老化試驗箱適用于IC、PCB、LCD Board、電池、電容、電阻,及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗, 比較傳統(tǒng)之恒溫恒濕設(shè)備85/85%R.H.試驗時, 可以節(jié)省大量時間, 當(dāng)測試溫度越高, 壓力越大,測試時間縮短越多, 在質(zhì)量檢驗上大量節(jié)省電力, 人力, 物力, 提升產(chǎn)品競爭力.有多種型號可選擇。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.采用耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu)，在大程度上降低了使用故障率。

2.獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。

3.門鎖電控制動結(jié)構(gòu)，解決產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點(diǎn)。

a.獨(dú)特的無結(jié)露設(shè)計

b抽屜式滑動托盤設(shè)計

c.飽和試驗（STD）和不飽和試驗（HUM）兩種試驗?zāi)Ｊ?/p>

d.電子自動門鎖緊結(jié)構(gòu)

e.多種排氣方式

f.可依據(jù)客戶需要，選配不同試驗夾具 

g.采用無風(fēng)扇內(nèi)部加熱循環(huán)，確保長期使用無集塵產(chǎn)生。

4.試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設(shè)計(試驗桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

試驗腔杜絕凝露結(jié)構(gòu)設(shè)計，試驗腔室干燥設(shè)計。                  

5.超長效實(shí)驗運(yùn)轉(zhuǎn)時間，長時間實(shí)驗機(jī)臺運(yùn)轉(zhuǎn)999小時.

6.水位保護(hù)，透過試驗室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).

7.耐壓設(shè)計，箱體耐壓力(150℃)2.65kg，符合水壓測試6kg.

8.二段式壓力安全保護(hù)裝置，采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置

9.安全保護(hù)排壓鈕，警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .

10.常規(guī)配備20組偏壓測試端子，內(nèi)外3.0快插設(shè)計（可增容）

11.USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù)，曲線.

HAST非飽和高壓老化試驗箱技術(shù)參數(shù)：

設(shè)定溫度：+100 ℃  ～ +147 ℃( 蒸氣溫度 )

濕度范圍：75~100 % 蒸氣濕度

濕度控制穩(wěn)定度：±3%RH

使用壓力：1.2~2.89kg(含1atm)

時間范圍：0 Hr ～ 999 Hr

加壓時間：0.00 Kg ～ 1.04 Kg / cm2  約 45 分

溫度波動均勻度：±0.5℃

溫度顯示精度：0.1℃

壓力波動均勻度：±0.1Kg

濕度分布均度：±3%RH

其他附屬配件：測試置架1組、樣品盤