非飽和快速老化箱適用于IC、PCB、LCD Board、電池、電容、電阻,及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗, 比較傳統(tǒng)之恒溫恒濕設(shè)備85/85%R.H.試驗時, 可以節(jié)省大量時間, 當(dāng)測試溫度越高, 壓力越大,測試時間縮短越多, 在質(zhì)量檢驗上大量節(jié)省電力, 人力, 物力, 提升產(chǎn)品競爭力.有多種型號可選擇。
非飽和快速老化箱適用于IC、PCB、LCD Board、電池、電容、電阻,及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗, 比較傳統(tǒng)之恒溫恒濕設(shè)備85/85%R.H.試驗時, 可以節(jié)省大量時間, 當(dāng)測試溫度越高, 壓力越大,測試時間縮短越多, 在質(zhì)量檢驗上大量節(jié)省電力, 人力, 物力, 提升產(chǎn)品競爭力.有多種型號可選擇。
安全保護(hù):
耐高溫密封電磁閥,采用雙回路結(jié)構(gòu),保證壓力無泄露。
整機(jī)配備超壓保護(hù),超溫保護(hù),一鍵泄壓,手動泄壓多重安全保障裝置,在大程度上保證用戶的使用和安全。
反壓門鎖裝置,在試驗室內(nèi)部有壓力時,試驗箱門無法打開.
控制系統(tǒng):
a.U760-TH溫濕度+壓力(Kpa).
b.采用指針顯示壓力表.{可選配電子壓力}
c.微電腦 P.I.D 自動演算控制飽和蒸氣溫度和蒸汽濕度.
d.手動入水閥(自動補水功能,可不停機(jī)連續(xù)試驗).
E.試驗數(shù)據(jù)記錄U盤導(dǎo)出,曲線查詢。
非飽和快速老化箱技術(shù)參數(shù):
試驗箱尺寸: HAST-40(∮426mm x L500 mm)圓型試驗箱
全機(jī)外尺寸: 710x 950x 1600 mm ( W * D * H )立式
設(shè)定溫度:+100 ℃~ +147 ℃( 蒸氣溫度 )
濕度范圍:75~100 % 蒸氣濕度
濕度控制穩(wěn)定度:±3%RH
使用壓力:1.2~2.89kg(含1atm)
加壓時間:0.00 Kg ~ 1.04 Kg / cm2 約 45 分
產(chǎn)品特點:
1.采用耐高溫電磁閥雙路結(jié)構(gòu),在大程度上降低了使用故障率。
2.獨立蒸汽發(fā)生室,避免蒸汽直接沖擊產(chǎn)品,以免造成產(chǎn)品局部破壞。
3.門鎖電控制動結(jié)構(gòu),解決產(chǎn)品圓盤式手柄的鎖緊困難的缺點。
a.獨特的無結(jié)露設(shè)計
b抽屜式滑動托盤設(shè)計
c.飽和試驗(STD)和不飽和試驗(HUM)兩種試驗?zāi)J?/span>
d.電子自動門鎖緊結(jié)構(gòu)
e.多種排氣方式
f.可依據(jù)客戶需要,選配不同試驗夾具
g.采用無風(fēng)扇內(nèi)部加熱循環(huán),確保長期使用無集塵產(chǎn)生。
4.試驗前排冷空氣;試驗中排冷空氣設(shè)計(試驗桶內(nèi)空氣排出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.
試驗腔杜絕凝露結(jié)構(gòu)設(shè)計,試驗腔室干燥設(shè)計。
5.超長效實驗運轉(zhuǎn)時間,長時間實驗機(jī)臺運轉(zhuǎn)999小時.
6.水位保護(hù),透過試驗室內(nèi)水位Sensor檢知保護(hù).
7.耐壓設(shè)計,箱體耐壓力(150℃)2.65kg,符合水壓測試6kg.
8.二段式壓力安全保護(hù)裝置,采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置
9.安全保護(hù)排壓鈕,警急安全裝置二段式自動排壓鈕 .
10.常規(guī)配備20組偏壓測試端子,內(nèi)外3.0快插設(shè)計(可增容)
11.USB導(dǎo)出歷史記錄數(shù)據(jù),曲線.

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