設計精良VERTEX 70v 光譜儀采用 RockSolid™ 準直高性能干涉儀，能滿足從常規(guī)分析測量到科研領域的各種應用需求。采用 UltraScan™ 真正準直干涉儀的 VERTEX 80 和 VERTEX 80v 是針對業(yè)內(nèi)的科研應用設計的，它具備的光譜分辨率、能實現(xiàn)目前業(yè)內(nèi)的快速掃描和步進掃描測量，能在的光譜范圍內(nèi)提供的性能。VERTEX 70v 及

設計精良

VERTEX 70v 光譜儀采用 RockSolid™ 準直高性能干涉儀，能滿足從常規(guī)分析測量到科研領域的各種應用需求。采用 UltraScan™ 真正準直干涉儀的 VERTEX 80 和 VERTEX 80v 是針對業(yè)內(nèi)的科研應用設計的，它具備的光譜分辨率、能實現(xiàn)目前業(yè)內(nèi)的快速掃描和步進掃描測量，能在的光譜范圍內(nèi)提供的性能。VERTEX 70v 及 VERTEX 80v 全真空系列光譜儀杜絕了大氣吸收對紅外測量的干擾，進一步提高光譜質量。

杰出的性能

- 的光譜分辨率
- 的信噪比
- 的動鏡掃描速度
- 全真空、可吹掃或密封干燥式光學臺克服大氣干擾
- 最多的軟件可控外光路擴展接口
- 分束器更換簡單快捷、無需重新調(diào)整干涉儀，實現(xiàn)紫外、可見光、近紅外及遠紅外/太赫茲波段的譜區(qū)擴展
- 全自動識別所有光學配件及測量附件
- *的步進掃描/慢掃描功能滿足光譜的時間分辨及各種調(diào)制應用
- 遠見性的設計可滿足當前及未來的各種拓展需求

譜區(qū)擴展

VERTEX 80 和 VERTEX 80v 可覆蓋從遠紅外或太赫茲10cm-1（VERTEX 80v 可達 5 cm-1）開始，經(jīng)中紅外、近紅外、可見光到紫外光區(qū) 50,000 cm-1 的光譜區(qū)域。其的預準直光學配件及真正準直的 UltraScan™ 傅立葉干涉儀使擴展光譜區(qū)域變得十分簡易。通過采用全自動分束器更換器 BMS-c，您可以在不中斷紅外譜儀真空的情況下實現(xiàn)從太赫茲到紫外的整個光譜區(qū)域的自動切換。該全自動更換器可以同時容納四個不同的分束器，其遠見的設計可以用來升級已安裝完備的 VERTEX 80v 光譜儀。另外，如果結合外接探測器擴展腔，客戶可以至多同時安裝 5 個不同類型的檢測器（室溫、液氮制冷或液氦制冷），并均由軟件操控，保證客戶在各個光譜區(qū)域都能選擇最合適的檢測器。

RockSolidTM 傅立葉紅外干涉儀

布魯克 RockSol id™ 高性能傅立葉干涉儀是VERTEX 70v 產(chǎn)品穩(wěn)定、可靠的核心因素。該干涉儀采取鍍金鏡面和30°入射角改良設計，以實現(xiàn)的通光效率和靈敏度，同時也極大限度地消除了偏振作用。其準直的設計保證了數(shù)據(jù)的高質量，使儀器的穩(wěn)定性得到了保障，并摒棄了調(diào)整帶來的滯后。數(shù)字化的電子元件保證了干涉儀的精準控制，使譜儀具備的靈敏度和長久的穩(wěn)定性。采用 DigiTect 技術的檢測器大大降低了電子噪音，使 VERTEX 70v 傅立葉紅外光譜儀成為日常分析和科學研究的理想選擇。

優(yōu)異的光譜分辨率

VERTEX 70v 光譜儀標準的光譜分辨率優(yōu)于0.4 cm-1，該分辨率可以滿足絕大多數(shù)固體、液體以及低溫下晶體樣品的測量。針對特殊的實驗要求，例如常溫下氣態(tài)樣品的測量，VERTEX 70v 系列光譜儀的分辨率可以升至 0.16 cm-1，通常情況下，該類光譜圖典型的半峰寬不會小于 0.2 cm-1。

的光譜分辨率

標準配置下的 VERTEX 80 光譜儀可以提供優(yōu)于0.2 cm-1（已采用切趾函數(shù)）的光譜分辨率。針對需要分辨率的應用，VERTEX 80 光譜儀可以提供優(yōu)于0.06 cm-1的分辨率。該高分辨率即便在高波數(shù)區(qū)也能實現(xiàn)，比如：在可見光區(qū)分辨能力ν/Δν（定義為波數(shù)/半峰寬）可以優(yōu)于 300,000:1。該指標由布魯克提供，其他制造商僅能提供其光譜儀在中紅外光譜區(qū)位于2000 cm-1 的光譜分辨率。，高波數(shù)區(qū)測試對光譜分辨能力和光學精準度的要求更為苛刻，布魯克VERTEX 80在高波數(shù)區(qū)的杰出表現(xiàn)再次體現(xiàn)了布魯克光譜儀的精良制作和公司嚴謹?shù)木瘛?/p>