世界光學(xué)品牌，可見光及電子光學(xué)的----德國蔡司公司始創(chuàng)于1846年。其電子光學(xué)前身為LEO（里奧）,更早叫Cambridge（劍橋），積掃描電鏡領(lǐng)域40多年及透射電鏡領(lǐng)域60年的經(jīng)驗，ZEISS電子束技術(shù)在世界上創(chuàng)造了數(shù)個：

臺靜電式透射電鏡 (1949) 

臺商業(yè)化掃描電鏡 (1965) 

臺數(shù)字化掃描電鏡(1985) 

臺場發(fā)射掃描電鏡(1990) 

臺帶有成像濾波器的透射電鏡 (1992) 

臺具有Koehler照明的 200kV 場發(fā)射透射電鏡(2003) 

臺具有鏡筒內(nèi)校正Omega能量濾波器的場發(fā)射透射電鏡(2003)

CARL ZEISS以其前瞻性的設(shè)計融合歐洲至上制造工藝造就了該品牌在光電子領(lǐng)域無可撼動的地位。自成立至今，一直延續(xù)不斷創(chuàng)新的傳統(tǒng)，公司擁有電鏡制造核心的專有技術(shù)，隨著離子束技術(shù)和基于電子束的分析技術(shù)的加入、是為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發(fā)射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案的電鏡制造企業(yè)。其產(chǎn)品的高性能、高質(zhì)量、高可靠性和穩(wěn)定性已得到廣大用戶的信賴與認(rèn)可。作為電鏡標(biāo)準(zhǔn)的CARL ZEISS將一路電鏡市場為您開創(chuàng)探求納米科技的嶄新紀(jì)元。

 

蔡司公司推出Sigma300場發(fā)射掃描電鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，將低電壓成像技術(shù)發(fā)揮到了，采用適宜的探針電流范圍，降低50%的信噪比從而提升了85%的襯度信息。Sigma300將高級的分析性能與場發(fā)射掃描技術(shù)相結(jié)合，多種探測器可選：用于顆粒、表面或者納米結(jié)構(gòu)成像。Sigma自動的四步工作流程大大節(jié)省了設(shè)置與分析操作的時間，提高效率。

 

分辨率：1.0nm@30kV STEM 

                1.0nm @15 kV  

                1.8nm @1kV

放大倍數(shù)：10-1,000,000×

加速電壓：調(diào)整范圍：0.02-30 kV（無需減速模式實現(xiàn)）

探針電流： 3pA～20nA（100nA選配）  穩(wěn)定性優(yōu)于 0.2%/h

低真空范圍： 2-133Pa （Sigma 300VP可用）

樣品室： 365 mm（φ），275mm（h）

樣品臺：5軸優(yōu)中心全自動   

                 X=125mm

                 Y=125 mm

                 Z=50 mm

                 T=-10º-90º

                 R=360º 連續(xù)

系統(tǒng)控制：基于Windows 7的SmartSEM操作系統(tǒng)，可選鼠標(biāo)、鍵盤、控制面板控制

存儲分辨率：32k x 24k pixels

 

掃描電鏡(SEM)廣泛地應(yīng)用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機(jī)械加工)和非金屬材料(化學(xué)、化工、石油、地質(zhì)礦物學(xué)、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等 檢驗和研究。在材料科學(xué)研究、金屬材料、陶瓷材料、半導(dǎo)體材料、化學(xué)材料等領(lǐng)域進(jìn)行材料的微觀形貌、組織、成分分析，各種材料的形貌組織觀察，材料斷口分 析和失效分析，材料實時微區(qū)成分分析，元素定量、定性成分分析，快速的多元素面掃描和線掃描分布測量，晶體、晶粒的相鑒定，晶粒尺寸、形狀分析，晶體、晶 粒取向測量。