BW-4022C

半導體綜合測試系統(tǒng)

BW-4022C半導體綜合測試系統(tǒng)可同時針對：

【光耦】

適用于〖三極管管型光耦/可控硅光耦/繼電器光耦〗進行測試。

【二極管】

〖Diode /穩(wěn)壓Diode/ZD/SBC/TVS/整流橋堆〗進行測試。

【壓敏電阻】

〖Kelvin /Vrrm /Vdrm /Irrm /Idrm /△Vr〗進行測試。

【鋰亞電池】

〖Kelvin/電池空載電壓（Vbt）/負載電壓(Vbt_load )  /測試電流（0-10A 恒流 ）/負載電壓變化值（▲Vbt_load）/電池內(nèi)阻(Vbt Res)  測試。

【晶振】

〖震蕩頻率(Freq_osc )/諧振電阻（Ri）/頻率精度(Freq_ppm)/測試頻率范圍（10kHz~10MHz）等測試。

【其他測試功能可定制拓展】

BW-4022C半導體綜合測試系統(tǒng)是針對于半導體器件開發(fā)專用測試的系統(tǒng)，經(jīng)我公司產(chǎn)品升級與開發(fā)，目前亦可以對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種器件進行參數(shù)測試，性能、精度、測試范圍均滿足客戶測試需求，可用于客戶端來料檢驗、研發(fā)分析、 產(chǎn)品選型等重要檢測設(shè)備之一。

BW-4022C 半導體綜合測試系統(tǒng)采用大規(guī)模 32 位 ARM&MCU 設(shè)計， PC 中文操作界面，程控軟件基于 Lab VIEW 平臺， 填充調(diào)用式菜單操作界面，測試界面簡潔 靈活、人機界面友好。配合開爾文綜合集成測試插座，根據(jù)不同器件更換測試座配合，系統(tǒng)可適配設(shè)置完成對二極管、光電耦合器、壓敏電阻、鋰亞電池、晶振5種元件的靜態(tài)參數(shù)測試。

該測試系統(tǒng)主要由測試主機和程控電腦及外部測試夾具三部分組成，并接受客戶端MES系統(tǒng)進行測試指令：方案選取/開始/暫停/停止/數(shù)據(jù)上傳等操作執(zhí)行，并可將測試數(shù)據(jù)上傳至MES系統(tǒng)由客戶端處理。

一、 設(shè)備規(guī)格與環(huán)境要求

物理規(guī)格

主機尺寸：深 660*寬 430*高 210(mm) 臺式

主機重量：＜25kg

產(chǎn)品色系：白色系

工況環(huán)境

主機功耗：＜300W

海拔高度：海拔不超過 1500m；

環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；

相對濕度： 20%RH～75%RH (無凝露，濕球溫度計溫度 45℃以下)；

大氣壓力：86Kpa～106Kpa；

防護條件：無較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導電粉塵等；

供電要求

電源配置：AC220V±10%、50Hz±1Hz；

工作時間：連續(xù)；

二、測試種類與技術(shù)指標

1、光耦測試：

· 三極管管型光耦

· 可控硅光耦

· 繼電器光耦

2、二極管類測試

· 二極管類：二極管

3、壓敏電阻測試

4、鋰亞電池測試

· Kelvin(0~150mV)

· 電池空載電壓（Vbt）  0-100V  +-0.2%

· 負載電壓(Vbt_load )   0-100V  +-0.5%  測試電流（0-10A 恒流 ）

· 負載電壓變化值（▲Vbt_load）0-10v +-5% 測試電流（0-10A 恒流 ）

· 電池內(nèi)阻(Vbt Res)  0-10v +-5%  測試電流（0-10A 脈沖 ）

5、晶振測試

· 震蕩頻率(Freq_osc )

· 諧振電阻（Ri）

· 頻率精度(Freq_ppm)

· 測試頻率范圍（10kHz~10MHz）

產(chǎn)品詳細參數(shù)請向廠家詢問索??！