BW-3010B

晶體管光耦參數(shù)測試儀（雙功能版）

BW-3010B型光藕參數(shù)測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。 ，BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降（VF）和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數(shù)的設定,測試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中，測試條件可以任意設置，測試正向壓降和輸出電流可達1A，操作簡便，實用性強。廣泛應用與半導體電子行業(yè)、新能源行業(yè)、封裝測試、家電行業(yè)、科研教育等領域來料檢驗、產(chǎn)品選型等重要檢測設備之一。

產(chǎn)品電氣參數(shù)：

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號：BW-3022A

產(chǎn)品名稱：晶體管光耦參數(shù)測試儀；

物理規(guī)格

主機尺寸：深 305*寬 280*高 120(mm)

主機重量：＜4.5Kg

主機顏色：白色系

電氣環(huán)境

主機功耗：＜75W

環(huán)境要求：-20℃～60℃（儲存）、5℃～50℃（工作）；

相對濕度：≯85%；

大氣壓力：86Kpa～106Kpa；

防護條件：無較大灰塵，腐蝕或爆炸性氣體，導電粉塵等；

電網(wǎng)要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；

工作時間：連續(xù)；

服務領域：

    應用場景：

   ?選型配對（在器件焊接至電路板之前進行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進行分類配對）

   ?檢驗篩選（研究所及電子廠的質量部（IQC）對入廠器件進行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

   產(chǎn)品特點：

   ?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單

   ?大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達1000種設置型號數(shù).

   ?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

   ?內置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.

   ?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達1500V；

   ?重復”回路”式測試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題；

   ?軟件自校準功能；

   ?自動測試測DUT短路、開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測試；

   ?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型，顯示測試結果是否合格,并有聲光提示；

   ?兩種工作模式：手動、自動測試模式。

        BW-3010B主機和DUT的管腳對應關系

                                               BW-3010B測試技術指標：

1、光電傳感器指標:

輸入正向壓降(VF)

輸出導通壓降(VCE(sat))

輸出漏電流(Iceo)

2、光電耦合器：

耐壓(VCEO)測試指標

輸入正向壓降(VF)

反向漏電流(ICEO)

反向漏電流(IR)

電流傳輸比(CTR)

輸出導通壓降(VCE(sat))

可分檔位總數(shù)：10檔

      BW-3010B測試定義與規(guī)范：

AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.

VF:IF: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時的測試電流.

Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電壓.

Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電流.

CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時輸入端的測試電流。

CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時輸出端的測試電壓。

Vsat:IF:表示測試光耦輸出導通壓降時輸入端的測試電流。

Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導通壓降時輸出端的測試電流。