B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產品的設計階段，用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。

BHAST高加速老化測試箱

B-HAST高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是將被測元件放置于一定的環(huán)境溫度中,（環(huán)境溫度依據(jù)被測元件規(guī)格設定）給被測元件施加一定的偏置電壓。同時控制系統(tǒng)實時檢測每個材料的漏電流，電壓，并根據(jù)預先設定，當被測材料實時漏電流超出設定時，自動切斷被測材料的電壓，可以保護被測元件不被進一步燒毀。

BHAST高加速老化測試箱 特點：

每顆器件的Vgs獨立控制

實時監(jiān)測每個試驗器件的Id、Ig

控制上、下電時序

全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中，可輸出Excel

試驗報表和繪制全過程漏電流IR變化曲線

漏電流超限保護，自動切斷測量回路

應用：

二極管，三極管，MOSFET，IGBT，SBD，GaN Fet, SCR以及各種封裝形式的射頻場效應管、射頻功率器件進行溫濕度下反偏試驗 。

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