| 參考價 | ￥ 99999 |
| 訂貨量 | ≥1臺 |
產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 產(chǎn)品大小 | 中型 |
| 產(chǎn)品新舊 | 全新 | 結(jié)構(gòu)類型 | 立式 |
| 溫度范圍 | +105℃~+150℃ |
（價格僅供參考，請以實際價格為準）
微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)
是一種用于評估微波器件在條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏壓，模擬微波器件在實際使用中可能遇到的高溫、高壓等惡劣環(huán)境，以加速器件的老化過程。
微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng) 應(yīng)用
適用于各種封裝形式的射頻場效應(yīng)管、射頻功率器件進行溫濕度下反偏試驗 。
微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng) 特點
·每顆器件的Vgs獨立控制
·實時監(jiān)測每個試驗器件的Id、 Ig
·控制上、下電時序
·全過程試驗數(shù)據(jù)保存于硬盤中， 可輸出Excel
·試驗報表和繪制全過程漏電流 IR變化曲線
微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)
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