步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱

步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱--產(chǎn)品用途

步入式環(huán)境試驗(yàn)箱能用于測(cè)試大的元件、裝配件和成品，包括從計(jì)算機(jī)、復(fù)印機(jī)到汽車,甚至是人造衛(wèi)星等大范圍的溫度、濕度的環(huán)境測(cè)試,除了用于產(chǎn)品的溫濕度試驗(yàn)和特定條件下的儲(chǔ)存,這些試驗(yàn)箱還能為食品加工、藥物硏究和其它科學(xué)應(yīng)用創(chuàng)造—實(shí)驗(yàn)的環(huán)境。

步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱--結(jié)構(gòu)特點(diǎn)

步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱具有試驗(yàn)空間大、可靠性要求高、溫濕度范圍廣、綜合環(huán)境參數(shù)多試驗(yàn)條件復(fù)雜。操作人員可以進(jìn)入試驗(yàn)室對(duì)試驗(yàn)品進(jìn)行操作的特點(diǎn)，為工業(yè)生產(chǎn)廠家的批量或者大型零件、半成品、成品提供了溫（濕）度環(huán)境測(cè)試的條件。

步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱—性能特點(diǎn)

采用易于運(yùn)輸和現(xiàn)場(chǎng)安裝的拼板式庫(kù)板，接縫處采用氬弧焊,可根據(jù)用戶需要提供各種尺寸規(guī)格的產(chǎn)品；

科學(xué)的空氣流通設(shè)計(jì)，使室內(nèi)溫濕度均勻，避免任何死角；

溫濕度控制選用嵌入式計(jì)算機(jī)系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程監(jiān)控系統(tǒng)；10.4屏幕真彩觸摸屏自動(dòng)化程度高，操作簡(jiǎn)單；

每個(gè)產(chǎn)品都根據(jù)客戶的要求訂做，動(dòng)力室和試驗(yàn)箱體分離的設(shè)計(jì),隔離噪音,Ｖち松璞傅氖視瞇院透咝А⒔諛埽�

省耗節(jié)能，的冷凍回路。

步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱--符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件　

GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　

GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　　

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備/GB/T5170.5-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 濕熱試驗(yàn)設(shè)備

GB/T 5170.18-2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫GB/T2423.3-2006/IEC 60068-2-78：2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T 2423.4-2008/IEC 60068-2-30：2005電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱(12h + 12h循環(huán))

GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14：2009 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化

GB/T 2423.34-2012/IEC60068-2-38：2009 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Z/AD:溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

GB/T 2423.50-2012/IEC 60068-2-67：1995環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cy:恒定濕熱 主要用于元件的加速試驗(yàn)

GB/T2424.1-2015/IEC 60068-3-1：2011 環(huán)境試驗(yàn) 第3部分:支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗(yàn)

GB/T 2424.5-2006/IEC 60068-3-5：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

GB/T 2424.6-2006/IEC 60068-3-6：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度/濕度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)

GB/T 2424.7-2006/IEC 60068-3-7：2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和B(帶負(fù)載)用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量

GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第３部分：高溫試驗(yàn)

GJB 150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)

GJB 150.9A-2009 裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第9部分：濕熱試驗(yàn)

GJB 360B-2009中的方法103 穩(wěn)態(tài)濕熱試驗(yàn)和方法106 耐濕試驗(yàn)

步入式恒溫恒濕試驗(yàn)箱--規(guī)格與技術(shù)參數(shù)（可制作非標(biāo)尺寸）