非標(biāo)非標(biāo)高低溫試驗(yàn)箱

非標(biāo)高低溫試驗(yàn)箱--產(chǎn)品用途

非標(biāo)高低溫試驗(yàn)箱適用于、航空航天產(chǎn)品、信息電子儀器儀表、材料、電工、電子產(chǎn)品、汽車各種電子元?dú)饧诟叩蜏丨h(huán)境下、檢驗(yàn)其各項(xiàng)性能指標(biāo)。

非標(biāo)高低溫試驗(yàn)箱—性能特點(diǎn)

具有及寬的溫度控制范圍和的控制精度，可滿足國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T2423《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》1、2項(xiàng)的試驗(yàn)要求。

采用的平衡調(diào)溫方式，可調(diào)節(jié)理想溫度環(huán)境，可進(jìn)行高精度、高穩(wěn)定的溫度控制。

制冷控制：PLC根據(jù)箱內(nèi)溫度的設(shè)定值和實(shí)際值自動(dòng)控制壓縮機(jī)和制冷閥，滿足不同的試驗(yàn)要求，減少設(shè)備運(yùn)行功率，確保壓縮機(jī)的安全運(yùn)行。

 非標(biāo)高低溫試驗(yàn)箱--符合標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件　

GB/T 10592-2008 非標(biāo)高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 　

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T2423.1-2008/IEC 60068-2-1：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫

GB/T2423.2-2008 /IEC 60068-2-2：2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫

GB/T2424.1-2015/IEC 60068-3-1：2011 環(huán)境試驗(yàn) 第3部分:支持文件及導(dǎo)則 低溫和高溫試驗(yàn)GJB 150.3A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第３部分：高溫試驗(yàn)

GJB 150.4A-2009裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分：低溫試驗(yàn)

非標(biāo)高低溫試驗(yàn)箱--規(guī)格與技術(shù)參數(shù)（可制作非標(biāo)尺寸）

☆上述指標(biāo)在室溫為+23℃時(shí)，溫濕度性能測(cè)試按照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)《JJF1101-20003》相關(guān)條款檢定。