當(dāng)今微電子薄膜，光學(xué)薄膜，抗氧化薄膜，巨磁電阻薄膜，高溫超導(dǎo)薄膜等在工業(yè)生產(chǎn)和人類生活中的不斷應(yīng)用，在工業(yè)生產(chǎn)的薄膜，其厚度是一個(gè)非常重要的參數(shù)，直接關(guān)系到該薄膜材料能否正常工作。如大規(guī)模集成電路的生產(chǎn)工藝中的各種薄膜，由于電路集成程度的不斷提高，薄膜厚度的任何微小變化，對(duì)集成電路的性能都會(huì)產(chǎn)生直接的影響。除此之外，薄膜材料的力學(xué)性能，透光性能，磁性能，熱導(dǎo)率，表面結(jié)構(gòu)等都與厚度有著密切的。那么薄膜材料的厚度是用什么儀器測(cè)試？

薄膜材料的厚度測(cè)試儀 電腦式薄膜測(cè)厚儀CHY-U

    薄膜材料的厚度測(cè)試可以用電腦式薄膜測(cè)厚儀CHY-U，該儀器主要用于薄膜、電池隔膜、太陽能電池硅片、紙張、膠帶等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度精確測(cè)量。是一款超高測(cè)試誤差的全自動(dòng)測(cè)厚儀，測(cè)厚儀被廣泛應(yīng)用于質(zhì)檢機(jī)構(gòu)、薄膜生產(chǎn)廠家、光伏廠等單位。該儀器采用微電腦控制、大液晶顯示；手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式，配備高精度傳感器，測(cè)量頭自動(dòng)升降，避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差，保證了測(cè)試誤差。儀器自動(dòng)保存zui多100組測(cè)試結(jié)果，打印zui大值、zui小值、平均值及每次測(cè)量結(jié)果，方便 用戶分析數(shù)據(jù)。

    薄膜材料的厚度測(cè)試用電腦式薄膜測(cè)厚儀CHY-U的技術(shù)參數(shù)：

    測(cè)量范圍           0-2mm （其他量程可定制

    分辨率             0.1um

    測(cè)量速度           10次/min（可調(diào)）

    測(cè)量壓力           17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）

    接觸面積           50mm²（薄膜），200mm²（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種

    進(jìn)樣步矩           0 ～ 1300 mm(可調(diào))

    進(jìn)樣速度           0 ～ 120 mm/s(可調(diào))

    機(jī)器尺寸           450mm×340mm×390mm (長寬高)

    重    量             23Kg

    工作溫度             15℃-50℃

    相對(duì)濕度             zui高80%,無凝露

    試驗(yàn)環(huán)境             無震動(dòng)，無電磁干擾

    工作電源             220V 50Hz

    濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司生產(chǎn)的電腦式薄膜測(cè)厚儀CHY-U是專門用來檢測(cè)薄膜材料的厚度的儀器，本公司還生產(chǎn)薄膜的拉伸強(qiáng)度、撕裂強(qiáng)度、落鏢沖擊強(qiáng)度、熱合強(qiáng)度等物理性檢測(cè)儀器，如果您對(duì)這些儀器感興趣請(qǐng)致電三泉中石銷售部。