? 分辨率成像—無(wú)論何時(shí)，不論哪次

? 高帶寬，從而快速掃描，觀察實(shí)時(shí)變化

? 潛力無(wú)限—極其靈活的開(kāi)放式架構(gòu)

? 獲得面的納米尺度的定量特性參數(shù)

? 超乎想象的簡(jiǎn)單

分辨率成像— 無(wú)論何時(shí)，不論哪次

FastScan 和 PeakForce Tapping® 實(shí)現(xiàn)了力的實(shí)時(shí)測(cè)量與線性控制。

輕易分辨 DNA小溝結(jié)構(gòu)。

點(diǎn)缺陷 的高分辨三維尺寸和機(jī)械性能成像— 不只是堅(jiān)硬的、平坦的晶體。

在樣品上每個(gè)原子實(shí)現(xiàn) 力掃描。

To maximize lateral resolution, stay close but not too close. PeakForce Tapping uniquely allows you to do this. See Physical Review B 56(7), 4159, 1992 LINK , and Chemical Review 88, 927 (1988) LINK for the detailed modeling of the tip-sample interaction.

推動(dòng) 石墨烯、鈣鈦礦等二維材料的研究。

PeakForce QNM® modulus images of graphene on hexagonal boron nitride, revealing a transition to a commensurate lattice upon alignment with highly localized strain relief. See also Nature Physics 10, 451–456 (2014). LINK

高帶寬，從而快速掃描，觀察實(shí)時(shí)變化

高帶寬，從而快速掃描，觀察實(shí)時(shí)變化

記錄高速的納米尺度動(dòng)力學(xué)現(xiàn)象。

測(cè)量具有挑戰(zhàn)性的形貌。

同時(shí)具備速度和穩(wěn)定性。

的原子力顯微鏡 —與樣品尺寸無(wú)關(guān)。

Increase scan speed on even the high-resolution Icon head with Fast Tapping.

潛力無(wú)限—極其靈活的開(kāi)放式架構(gòu)

全面的環(huán)境控制方案，用于電池、有機(jī)太陽(yáng)能等領(lǐng)域。

首先使用已有的測(cè)量模式;如果沒(méi)有，創(chuàng)造一個(gè)。

直接控制軟件和硬件，選擇一個(gè)最容易的方法：串行通訊端口，信號(hào)測(cè)試盒，Nanoman/Litho和力腳本等。

在開(kāi)放的平臺(tái)上直接進(jìn)行改造，與其它技術(shù)聯(lián)用。

獲得面的納米尺度的定量特性參數(shù)

重新定位您的期望。

Nanoscale viscoelastic characterization with high confidence.

常規(guī)地獲得高質(zhì)量力學(xué)性能數(shù)據(jù)。

在之前不可能研究的樣品上研究電學(xué)性能。

獲取整體力學(xué)數(shù)據(jù)，從而全面表征接觸力學(xué)機(jī)制。

實(shí)時(shí)研究原子化學(xué)信息。

超乎想象的簡(jiǎn)單

專(zhuān)注于您的研究。

硬件，軟件和控制算法，讓您立即成為專(zhuān)家。

NanoScope®被認(rèn)可的，被引用最多的原子力顯微鏡。

的儀器檢測(cè)性能

? 在空氣或液體中成像速度是原來(lái)速度的100倍，自動(dòng)激光調(diào)節(jié)和檢測(cè)器調(diào)節(jié)，智能進(jìn)針，大大縮短了實(shí)驗(yàn)時(shí)間。

? 自動(dòng)測(cè)量軟件和高速掃描系統(tǒng)結(jié)合，大幅提高了實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的可信度和可重復(fù)性。

的測(cè)量分辨率

? Fastscan精確的力控制模式提高了圖像分辨率的同時(shí)，延長(zhǎng)了探針的使用壽命。

? 掃描速度20Hz時(shí)仍能獲得高質(zhì)量的TappingModeTM圖像，掃描速度6Hz仍能獲得高質(zhì)量的ScanAsyst圖像。

? 低噪音，溫度補(bǔ)償傳感器展現(xiàn)出亞埃級(jí)的噪音水平。

全面的測(cè)試功能，適用于各類(lèi)AFM樣品

? 閉環(huán)控制的Icon和FastScan的掃描器極大的降低了Z方向噪音，使它們Z方向的噪音水平分別低于30pm和40 pm，具有超低的熱漂移率，可得到超高分辨的真實(shí)圖像。

? Fast Scan可以對(duì)不同樣品進(jìn)行測(cè)量，保證掃描過(guò)程中從埃級(jí)到0.1μm的高精度無(wú)失真掃描。

不論您選擇Icon掃描器獲得超低噪音和超高分辨率的圖像，還是選擇Dimension FastScan AFM的掃描器進(jìn)行高速掃描檢測(cè)，Dimension FastScan AFM系統(tǒng)都會(huì)幫助您將儀器的功能開(kāi)發(fā)到，實(shí)現(xiàn)其它單一模式的儀器所達(dá)不到的效果。