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狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀

參考價(jià)	￥ 1000
訂貨量	≥1臺(tái)

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司
品牌其他品牌
型號(hào)BeamMap2-CM
所在地北京市
廠商性質(zhì)代理商
更新時(shí)間2024/9/11 15:44:34
訪問(wèn)次數(shù)632

產(chǎn)品標(biāo)簽:

狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀

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公司介紹主營(yíng)產(chǎn)品

北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司位于首都北京，是一所擁有自主創(chuàng)新意識(shí)，不斷奮發(fā)前進(jìn)的科技公司。
本公司主要進(jìn)行儀器代理、市場(chǎng)營(yíng)銷、售后服務(wù)、設(shè)備校準(zhǔn)等。
北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司憑借良好的信譽(yù)，*的技術(shù)和穩(wěn)定的產(chǎn)品質(zhì)量，為公司的發(fā)展提供動(dòng)力。
本公司員工都具有豐富的本行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn)、有創(chuàng)新精神、團(tuán)結(jié)協(xié)作精神。

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介在線詢價(jià)

產(chǎn)地	進(jìn)口	產(chǎn)品新舊	全新

產(chǎn)品ID：S-BMS2-CM4-Si-5

品牌名稱：美國(guó)Dataray

DataRay的BeamMap2代表了一種w全不同的實(shí)時(shí)光束分析方法。它通過(guò)允許沿光束行程的多個(gè)位置進(jìn)行測(cè)量，擴(kuò)展了Beam'R2的測(cè)量功能。這種實(shí)時(shí)狹縫掃描系統(tǒng)在旋轉(zhuǎn)圓盤上的多個(gè)z平面中使用XY狹縫對(duì)，以同時(shí)測(cè)量四個(gè)不同z位置處的四個(gè)光束輪廓。 BeamMap2獨(dú)t的設(shè)計(jì)z適用于焦點(diǎn)位置，M2，光束發(fā)散和指向的實(shí)時(shí)測(cè)量

狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀產(chǎn)品信息

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· 190至1150 nm，Si探測(cè)器

· 650至1800 nm，InGaAs 探測(cè)器

· 1000至2300或2500 nm，InGaAs（擴(kuò)展）探測(cè)器

· 光束直徑~100 μm至~3 mm（1.5 mm加長(zhǎng)InGaAs）

· 25 μm狹縫對(duì)與Si；0.1到2 μm采樣間隔

· 50 μm狹縫對(duì)，帶 InGaAs；0.1到2 μm采樣間隔

· 實(shí)時(shí)±1 mr實(shí)時(shí)發(fā)散和指向測(cè)量精度

· 端口供電，USB2.0，靈活的3米電纜，沒(méi)有電源磚

· 0.1 μm采樣和分辨率

· 線性和對(duì)數(shù)X-Y輪廓

· 輪廓縮放和狹縫寬度補(bǔ)償

· 實(shí)時(shí)多Z平面掃描狹縫系統(tǒng)

· 實(shí)時(shí)XYZ輪廓，焦點(diǎn)位置

· 實(shí)時(shí)M2、發(fā)散、準(zhǔn)直、對(duì)準(zhǔn)

產(chǎn)品參數(shù)：

產(chǎn)品參數(shù)
波長(zhǎng)	Si detector: 190 to 1150 nm InGaAs detector: 650 to 1800 nm Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm
掃描光束直徑	Si detector: 5 μm to 4 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode* InGaAs detector: 10 μm to 3 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode* InGaAs (extended) detector: 10 μm to 2 mm, to 2 μm in Knife-Edge mode*
平面間距（CM4 models）	5 mm: -5, 0, +5, +20 mm
平面間距 (CM3 models)	10 mm: -10, 0, +10, 0 mm
束腰直徑測(cè)量	Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat 1/e2 (13.5%) width User selectable % of peak Knife-Edge mode* for very small beams
束腰位置測(cè)量	在 X、Y 和 Z 方向上 ± 20 μm z佳
測(cè)量源	連續(xù)波；脈沖激光，Φ μm ≥ [500/(PRR in kHz)]
分辨率精度	0.1 μm或掃描范圍的0.05%±< 2% ± = 0.5 μm
M2 測(cè)量	1 to > 20, ± 5%
發(fā)散/準(zhǔn)直，指向	1 mrad
zui大功率和輻照度	1 W Total & 0.5 mW/μm2
增益范圍	1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range
顯示圖形	X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16
更新率	~5 Hz
平均	用戶可選擇運(yùn)行平均值（1 到 8 個(gè)樣本）
zui低電腦要求	Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port

* Knife-Edge mode需要 CM3 型號(hào)

產(chǎn)品選擇：

	Beam’R2	BeamMap2
主要特征	集成X和Y輪廓	實(shí)時(shí) XYZθΦ 測(cè)量和焦點(diǎn)查找實(shí)時(shí)指向、發(fā)散和M² 測(cè)量
接口	USB 2.0 Port-powered
CW or Pulsed?	CW，脈沖zui小 PRR（Si 探測(cè)器）≈ [500/（激光直徑μm）] kHz
波長(zhǎng)	Si:190-1150 nm InGaAs:650-1800 nm Si+InGaAs:190-1800nm Si+InGaAs,extended:190-2500nm
X-Y-Z Profiles, plus Θ-Φ	N/A
z佳分辨率	0.1 μm
zui小光束	2 μm (Knife Edge mode)
更新率	5 Hz real-time (adjustable 2-10 Hz)
M² 測(cè)量	Yes - with M2DU-BR accessory	Yes - real-time
定位焦點(diǎn)	Yes - with M2DU-BR accessory	Yes - real-time
指向/發(fā)散	Yes - with M2DU-BR accessory	Yes - real-time
開關(guān)增益（選項(xiàng) dB）	32 dB

參數(shù)	參數(shù)值	BeamMap2	Beam'R2	Comments
波長(zhǎng)可選范圍（nm）	190-1150, 650-1800, 190-1800, 190-2500	Yes	Yes	Si, InGaAs, Si + InGaAs,
被掃描光束直徑	2 μm to 4 mm (2 mm for IGA-X.X)	Yes	Yes	Si + InGaAs, extended
X-Y 輪廓及中心分辨率：	0.1 μm 或者 0.05% 的掃描范圍	Yes	Yes
精度:	±<2% ± ≤0.5μm	Yes	Yes
CW or Pulsed	連續(xù)/脈沖 zui小PRR ≈ [500/(激光直徑μm)]kHz	Yes	Yes
光束對(duì)準(zhǔn)準(zhǔn)直	± 1 mrad with BeamMap2 ColliMate	Yes	-
M2 測(cè)量	1 to >20, ± 5%	Yes	-	Beam Dependent
實(shí)時(shí)更新	5 Hz	Yes	Yes	4 Z-plane hyperbolic fit
zui大功率＆輻照度	1 W Total & 0.3 mW/μm2	Yes	Yes	Adjustable 2-12 Hz
增益范圍：	32dB	Yes	Yes	Metallic film on Sapphire slits