| 參考價 | ￥ 1000 |
| 訂貨量 | ≥1 把 |
產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 產(chǎn)品新舊 | 全新 |
MicroTEQ-B1顯微光譜測量系統(tǒng)，具備透反射測量功能。系統(tǒng)選用了共焦收光方式，形成了較小的收光面；除此之外，視野+成像+收光+物面的共軛，可使觀察和測試同時進行。系統(tǒng)中的顯微反射測量模塊可適配市面上大部分主流顯微鏡，滿足客戶對顯微鏡的不同需求。
成像照片
下圖為使用10X物鏡對50um小孔進行透射率測量時的聚焦和實測畫面。
實測圖譜
系統(tǒng)參數(shù)
型號 | MicroTEQ-B1 |
光譜儀 | 可根據(jù)情況自行選配 |
顯微反射測量模塊 | 兼容大部分主流顯微鏡 |
尺寸 | 220x172x68 mm |
重量 | 2.8 kg |
支持波段 | 400-700 nm |
反射照明zui大支持相機尺寸 | 1/2” |
測量光斑 |
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您訪問的顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1產(chǎn)品信息，由北京中瑞先創(chuàng)科技有限公司自行發(fā)布提供，產(chǎn)品價格為面議，如您想了解更多關(guān)于顯微光譜測量系統(tǒng)-MicroTEQ-B1型號、參數(shù)、用途等信息，歡迎咨詢。
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