瑞宇科技的AFM+多功能原子力顯微鏡和NanoIR納米紅外光譜成像顯微鏡是一種可通過擴展多種模塊實現(xiàn)納米級別空間分辨率基礎(chǔ)上的熱力學、力學、電學和磁學分析的*儀器系統(tǒng)，其中，納米熱分析模塊（簡稱NanoTA）就是一種熱力學分析儀器。

        瑞宇科技的納米熱分析模塊使用具有特別技術(shù)的耐高溫特種探針可實現(xiàn)探針自加熱，對樣品表面的微區(qū)進行加熱，樣品表面微區(qū)加熱后發(fā)生熱膨脹，使得探針信號偏轉(zhuǎn)，當樣品達到臨界溫度時會發(fā)生軟化，從而造成探針偏轉(zhuǎn)信號突變，進而獲得樣品的轉(zhuǎn)變點溫度。

        利用這一功能，使用瑞宇科技的納米熱分析模塊能夠得到樣品的熔融點溫度、玻璃化轉(zhuǎn)變溫度及特定區(qū)域的溫度掃描成像圖，能夠提供異質(zhì)材料如共混物/混合物/多層膜的局部熱分析鑒定，從而為研究人員提供更全面的分析信息。

        瑞宇科技的納米熱分析模塊可與原子力顯微鏡結(jié)合實現(xiàn)掃描熱顯微鏡（SThM）功能，從而允許納米級相對溫度成像或熱傳導率成像，

                                                                PA6PET共混物的微區(qū)納米熱分析

主要參數(shù)：

工作溫度：室溫～400℃（取決于探針）

升溫速錄：600000℃/min

溫度分辨率：0.1℃

空間分辨率：10nm～100nm

應用：

材料研究

有機物及生物材料研究

聚合物多相分離研究

晶體突變研究

事故原因分析

界面微區(qū)研究

催化劑研發(fā)