臺式薄膜測厚儀 薄膜自動厚度測量儀

規(guī)格：CHY-S

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在工業(yè)中，薄膜是一種使用非常頻繁的材料，而且廣泛應用于工業(yè)中的各個方面，如產品包裝、電子生產等。在薄膜中，厚度是否均勻是衡量其質量的重要標準，因為如果薄膜厚度不均，不但會影響到薄膜的拉伸強度、阻隔性等，還會影響到薄膜的后續(xù)加工。

對于微電子薄膜、光學薄膜等，薄膜的厚度還直接關系到薄膜材料能否正常工作；另外，大規(guī)模集成電路中的薄膜，如果厚度發(fā)生變化，會直接影響到電路的性能。除此之外，薄膜材料的力學性能，透光性能，磁性能，熱導率，表面結構等都與厚度有著密切的聯(lián)系。為此，需要對薄膜的厚度測量。

臺式薄膜測厚儀 薄膜自動厚度測量儀

CHY-S臺式薄膜測厚儀是濟南三泉中石實驗儀器根據(jù)GB/T6672 《塑料薄膜和薄片厚度測定-機械測量法》、ISO4593《塑料薄膜和薄板機械掃描測定厚度》等標準研發(fā)生產的厚度測量儀器，廣泛適用于2mm范圍內各種薄膜、復合膜、紙張、金屬箔片等硬質和軟質材料厚度精確測量。

CHY-S臺式薄膜測厚儀標準量塊標定,方便用戶快速標定設備，配備自動進樣器，可一鍵實現(xiàn)全自動多點測量，誤差小；儀器在提供測試結果圖形統(tǒng)計分析的同時，配備微型打印機，可自動保存并且打印多達100組測試結果。除此之外，儀器還配備RS232接口，方便實驗數(shù)據(jù)和結果的分享。

技術參數(shù)              

測量范圍 ：  0-2mm （其他量程可定制）    

分辨率：     0.1um

測量速度：   10次/min（可調）    

測量壓力：   17.5±1kPa（薄膜）；100±1kPa（紙張）      

接觸面積：   50mm2（薄膜），200mm2（紙張） 注：薄膜、紙張任選一種  

進樣步矩：   0 ～ 1300 mm(可調)    

進樣速度：   0 ～ 120 mm/s(可調)  

機器尺寸：   450mm×340mm×390mm (長寬高)    

重    量：     23Kg    

工作溫度：     15℃-50℃

相對濕度：     ≤80%,無凝露    

試驗環(huán)境：     無震動，無電磁干擾      

工作電源：     220V 50Hz