常用的測(cè)量鍍鋁膜鋁層厚度測(cè)方法有三種，分別是光密度法、表面方塊電阻測(cè)量、第三種方法是目測(cè)估計(jì)法。我們今天主要介紹的是表面方塊電阻測(cè)量發(fā)。此法測(cè)試所用的儀器是電阻法鍍鋁薄膜厚度測(cè)試儀DMT-S。

　　電阻法鍍鋁薄膜厚度測(cè)試儀DMT-S也叫金屬鍍層測(cè)厚儀，是濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司生產(chǎn)的，適用于各種鍍鋁薄膜、鍍鋁紙測(cè)試電阻值、均勻度、厚度值的測(cè)試。

　　金屬鍍層測(cè)厚儀符合GB/T 15717-1995 真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法電阻法 標(biāo)準(zhǔn)要求，可檢測(cè)厚度50-570埃的鍍鋁層厚度，0.5-5Ω的方塊電阻測(cè)量范圍，±1%的方塊電阻測(cè)量誤差，用于各種鍍鋁薄膜表面鍍鋁層的電阻值、均勻度、厚度值的檢測(cè)。

　　儀器技術(shù)參數(shù)；

　　厚度測(cè)量范圍:厚度50-570埃

　　方塊電阻測(cè)量范圍:0.5-5Ω

　　方塊電阻測(cè)量誤差:±1%

　　樣品尺寸:100×100mm

　　夾樣誤差:±0.1mm

　　測(cè)溫范圍:0～50℃，精度±1℃

　　外形尺寸:370mm×330mm×450mm （長(zhǎng)寬高）

　　重量:19kg

　　工作溫度:23℃±2℃

　　相對(duì)濕度:80%,無(wú)凝露

　　工作電源:220V 50Hz

　　濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司是專業(yè)的藥包材檢測(cè)儀器廠家，尋找金屬鍍層測(cè)厚儀、CPP真空鍍鋁膜測(cè)厚儀、滿足GB/T 15717金屬鍍層厚度儀 。