◆設(shè)備型號：PARAM博每 CHY-C2A
◆設(shè)備品牌：Labthink蘭光
◆關(guān)鍵詞：測厚儀，薄膜厚度儀，薄膜測厚儀，紙張厚度測定儀，厚度測量儀，厚度計，薄膜厚度測量儀，薄膜厚度檢測儀，薄膜厚度測定儀，薄片測厚儀，硅片測厚儀，GB/T 6672，紙張測厚儀
◆設(shè)備報價：歡迎客戶致電來咨詢！
◆應(yīng)用范圍：CHY-C2A電池硅片厚度測定儀 臺式硅片測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
◆技術(shù)特征：
√ 嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計接觸面積和測量壓力，支持各種非標(biāo)定制
√ 測量頭自動升降，有效避免人為誤差
√ 支持自動和手動兩種測量模式
√ 實時顯示測量結(jié)果的zui大值、zui小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)
√ 配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定
√ 支持?jǐn)?shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能
√ 微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板
◆技術(shù)特征：
1、測試范圍：0～2mm（常規(guī)）；0～6mm；12mm（可選）
2、分辨率：0.1μm
3、測量速度：10 次/min （可調(diào)）
4、測試壓力：17.5±1 KPa（薄膜）；50±1 KPa（紙張）
5、接觸面積：50 mm2（薄膜）；200 mm2（紙張）
     注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
◆執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
◆儀器標(biāo)配：主機、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
◆CHY-C2A電池硅片厚度測定儀 臺式硅片測厚儀生產(chǎn)廠家：濟南蘭光機電技術(shù)有限公司