DEBEN之CT5KN型拉伸臺(tái)

用于工業(yè)CT斷層掃描系統(tǒng)的CT5KN型DEBEN拉伸臺(tái)

Deben公司可以定制一系列用于微米/納米級(jí)的斷層掃描系統(tǒng)特別設(shè)計(jì)的拉伸臺(tái)。與NIKON, GE 和 Xradia等出品的X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng)（工業(yè)CT）*配套，可為您的掃描斷層應(yīng)用提供一套完整的拉伸測(cè)試等加載方案。

使用帶有斷層掃描功能的拉伸測(cè)試可以為材料和復(fù)合材料提供在不同的裝載條件下材料性質(zhì)變化的清晰的目視判讀。這種新測(cè)試臺(tái)的設(shè)計(jì)允許它可以與斷層掃描系統(tǒng)配套使用，提供高達(dá)5KN的拉伸力和壓力，和低至25mN的拉伸力和壓力。系統(tǒng)通過全面的微測(cè)試?yán)炫_(tái)控制軟件控制，這套軟件具備很大范圍的控制功能而且可以顯示負(fù)載與拉伸量之間的關(guān)系。

其他版本（適用于CT斷層掃描應(yīng)用）

500N版本

5KN下可選擇的Peltier半導(dǎo)體制冷和加熱組件，溫度范圍從-20°C到+ 160°

5KN下可選擇的加熱組件（室內(nèi)溫度高達(dá)+250°C）

10KN, 25KN(框架式)版本（只可用于自定義版本）

半導(dǎo)體制冷和加熱組件，溫度范圍僅僅從-20°C到+ 50°（可選擇高達(dá)+160°C）

DEBEN之CT5KN型拉伸臺(tái)技術(shù)規(guī)格

模塊化的拉伸和壓縮測(cè)試系統(tǒng)可以被安裝在X射線斷層攝影系統(tǒng)內(nèi)

裝有玻璃碳支撐環(huán)的簡(jiǎn)單的樣品交換裝置，3mm壁厚（用于加速器等系統(tǒng)時(shí)壁厚為6mm）

拉伸和壓縮夾具，可以根據(jù)客戶具體要求定制

大行程10mm（可以通過用戶需求設(shè)定行程）， （10-20mm 拉伸量），使用壓縮夾具可以達(dá)到（15-5mm壓縮量）

可互換的載荷力傳感器：讀數(shù)精度為滿量程的+/-1％，可選擇500N, 1KN, 3KN, 5KN

變速箱時(shí)位移速度范圍為0.1mm/min 到1mm/min（可選擇較慢的速度）

Options：3 點(diǎn)和4 點(diǎn)彎曲夾具，加熱和冷卻組件，加熱組件，慢速變速箱，額外的加載傳感器